关于高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统的介绍

介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。  

高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、JD-100A/JD-100B/JD-100C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入JD-100A/JD-100B或JD-100C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、美标ASTMD150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。  

可测试材料：绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等 。

适用标准

1. GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法。

2. GB/T1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法。

3. ASTM-D150-介电常数测试方法。

4. GB/9622.9-88/SJT11043-1996电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法。
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