FPGA学习之安全行为和非安全行为

安全行为和非安全行为

由于条件语句的描述在很多情况下，导致生成锁存器。这些锁存器将上游的毛刺传输至下游，并且锁存器的使能信号（源自组合威廉希尔官方网站 ）也带有毛刺，引起的冒险竞争，导致下游逻辑出现错误的捕获，这种现象称为非安全行为。

一旦非安全行为发生错误，典型的特征是：前仿正确，后仿不正确，下板不正确，而且很难以找到问题所在。

因此，现代EDA，要求写安全行为的HDL，一旦出现非安全行为，大多数工具直接给出警告。又由于非安全行为的根源在锁存器，因此，“消灭锁存器”为EDA综合编译和时序收敛过程一个必然步骤。也就是说，一旦生锁，将给出警告。

安全行为的编码原则：

1.开节点输出的信号，必须满足：“全条件”+“全线与”

2.闭节点输出的信号，这些信号中的条件译码信号，必须写“全条件”+“全线与

安全行为编码例子：摩尔流水灯

设计需求

开发板的4个led灯，轮流点亮

每一个灯亮200ms，然后熄灭50ms

任何时候，按下start_n，流水灯开始运行

任何时候，按下stop_n，流水灯停止运行，全部熄灭

二段摩尔状态机

工作时钟clk频率为100KHz(10us)

顶层框图

顶层架构

ET：使能信号触发器，在start_n为真时触发ena为真，在stop_n为真时触发ena为假。复位rst_n为真触发ena为假。

CNT：cnt_en为假，cnt清零；cnt_en为真，cnt加一计数

TS：shift_rst_n为真，给出temp的初始值4’b1110；shift_en为真，temp左移一次

引用TPS：

状态转移图(非安全行为)

状态转移图（安全行为）

编辑：jq