光谱共焦位移传感器的位移测量模式

随着工业快速的发展，对精密测量技术的要求越来越高，位移测量技术作为几何量精密测量的基础，不仅需要超高测量精度，而且需要对环境和材料的广泛适应性，并且逐步趋于实时、无损检测。光谱共焦位移传感器是中国自动化测量市场中定义的一种新型传感器，它能解决许多高精度测量应用。
 

光谱共焦传感器位移模式是专门用来测试样品表面点的高度的。

位移数据使用30比特的数字分辨率传输的。

当测量一个不透明样品(金属，纸，陶瓷……)剖面高度时，使用位移模式就很直观简单。

当测量薄的透明样品或者有涂层样品时，就会发生传感器同时得到两个信号的情况：涂层表面反射一个信号，底层反射第二个信号。传感器默认选择最强的信号并且忽略其它收到的信号，不管其谱峰的相对位置。在一些应用中这种处理不是最佳：在上面的例子中，底层材料的反射率一般比涂层的反射率强，而我们可能需要测量的是涂层表面。高级主题会给出模式的在这种应用中的解决方法。
 

　　审核编辑：鄢孟繁