使用泰克USB频谱仪的EMI测试方案

EMI测试是EMC测试的重要环节，也是任何电子产品上市之前所必要的步骤，其设计贯穿整个产品的设计流程，要求在设计之初便需要对其进行考虑。但是传统的EMI测试往往需要专业的频谱仪或者信号分析仪，并且受制与分析带宽，往往不能很快速的捕获异常频段。泰克MSO4-5-6基于数字下变频技术的频谱视图，使其拥有超高的捕获带宽，以及超快的解析速率，能够使得工程师能够更快速的定位问题所在，加速测试流程。

EMI，既电磁干扰，指设备在工作时对外部环境的干扰现象。所有的电子设备都对EMI有限制，要求满足规范，既不能影响其他设备的工作。

通常在设计过程中的EMI测试称之为Pre-EMI测试，简称预测试。一般情况下会使用频谱仪和近场探头进行测试，如下图：

这里是使用泰克RSA306B型号USB频谱仪与仅场探头对一电源进行EMI测试

EMI测试概图

由于传统的频谱仪其捕获带宽有限，一般为10MHz，20MHz，或者40MHz，部分高性能频谱仪，可以做到更高，但是其高捕获带宽一般为选件，且有较高的成本。EMI测试的频率范围有一定的要求，但是也较为宽阔，一般的频谱仪测试则会进入Scan或者Step的模式，整个测试需要很长的扫描周期，有时会高达数小时。这对于设计阶段是不可接受的。而示波器的FFT功能，则受限于采样率和存储深度。若要观测到很高的频率，要求很高采样率的同时又要求有足够的样点供以计算，难以实现。

泰克MSO4-5-6系列采用了基于硬件的DDC技术，且时域与频域并行处理架构，大大的提高了测试速度。

时频域同时观测以及与传统FFT的对比

使用频谱视图定位不同异常的频点

优秀的底噪

MSO6Series，其底噪相较于高端频谱仪RSA5126B，在中低频段，测试结果也不遑多让，可以保证测试的准确性。

其操作菜单接近于频谱仪设置，可独立于时域设置CF以及Span等参数，相较于FFT操作更加便利。MSO4/5最高Span可至500MHz，MSO6BSeries最高Span高达2GHz，示波器可以作为一台DC起的中档频谱仪使用。

EMI测试实操图：

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