传感器采样和工作频率

01传感器采样和工作频率

CH101 传感器的采样时间，有两个不同的时间基数需要考虑。

第一个较慢的时基是传感器开始新的测量周期的速率(例如，10次测量/秒，30次测量/秒，等等)。这是通常对传感应用最重要的采样率，因为它决定了测量数据的更新频率。如果传感器在自由运行模式下运行，这个慢速的时基是由传感器的片上实时时钟(RTC)产生。在硬件触发模式下，外部 MCU 保持慢速时基，并在适当的时间触发传感器。

第二快速时基是在单个超声波测量中使用的内部采样率。接收到的超声波首先从超声波发射频率解调到基带，每个测量周期包括许多解调基带信号的单独样本。这种内部基带采样的时间是传感器工作频率的一个函数。在正常测距模式下，基带采样率fs等于传感器的超声波工作频率fop，除以8。

对于CH101传感器，工作频率一般在175 KHz 左右，而CH201传感器的工作频率在85 KHz左右，因此CH101的典型基带采样率在22KHz左右，CH201在11KHz左右。CH101还有一个特殊的短距离测距模式，使用较高的基带采样率，fs,短距离=fop/2，以便在短距离有更好的效果。

单个传感器使用的具体工作频率是在上电和初始化期间，在器件的内置自检(BIST)期间设置的。因为测量中各个样本的时间是基于传感器的特定工作频率，所以确切的样本时间在不同的传感器之间会略有不同。当样本偏移(在时间上)需要转换为物理距离时，这种差异就变得很重要，因为一个给定的样本指数所代表的物理距离会略有不同。因此，在解析来自传感器的报告范围值时，设备的工作频率是计算中的一个组成部分，它是以采样指数表示的。

审核编辑：汤梓红