华大电子MCU CIU32L061x8 系列特性分析

2、产品描述

华大电子MCU CIU32L061x8 系列超低功耗安全 MCU具有 128KbytesFlash、16Kbytes SRAM，512bytesOTP，以及丰富外设资源。可提供 LQFP48、LQFP64、LQFP80，3 种封装类型，I/O 利用率最大可达90%。根据选定的封装类型，包含的外设资源存在一定差异，参见表：华大电子MCU CIU32L061x8 系列特性和外设资源统计。

3、华大电子MCU CIU32L061x8电气特性

3.1 测试条件

除特别说明，所有电压均以VSS为基准。TBD 表示要定义的数据。

3.2 最小和最大数值

除特别说明，最小、最大值在生产线上，通过对100%的产品在环境温度TA=25°C和 TA=TAmax下执行的测试（TAmax 与选定的温度范围匹配）；所有最小和最大值可在最坏的环境温度、供电电压和时钟条件下得到保证。在每个表格下方的注解中，说明为通过综合评估、设计模拟和/或工艺特性得到的数据，不会在生产线上进行测试；在综合评估的基础上，最小和最大数值是通过样本测试后，取其平均值再加减三倍的标准分布（平均±3σ）得到。

3.3 典型数值

除特别说明，典型数据是基于TA=25°C 和 VDD=3.0V（1.8V≤VDD≤3.6V）。这些数据仅用于设计指导而未经测试。

典型的 ADC 精度数值是通过对一个标准的批次采样，在所有温度范围下测试得到，95%产品的误差小于等于给出的数值（平均±2σ）。

3.4 绝对最大额定值

加在器件上的载荷如果超过下表（电压、电流、温度）所给出的值，可能会导致器件永久性地损坏。这里只是给出可承受的最大载荷，并不意味在此条件下器件的功能性操作无误。器件长期工作在最大值条件下会影响器件的可靠性。

编辑：黄飞