半导体器件在使用过程中最常见的失效模式之一就是电浪涌引起的电过应力(EOS)损伤或烧毁电浪涌(即电瞬变)指的是一种随机的短时间的电压或电流冲击,它是在机器装调和使用过程中常出现的问题。电浪涌虽然平均功率很小,但瞬时功率却非常之大,因此,对半导体器件的破坏性很大,轻则引起逻辑威廉希尔官方网站 出现错误或引起PN结内部的局部损伤,重则使PN结严重损坏,甚至铝金属也烧融飞溅。
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