电流注入探头在 BCI 测试中的应用

     依据ISO11452-2、GB/T 17619、ECE-R 10.05、2004-104-EC等标准要求，对汽车电子零部件系统等车载电子设备（包括电动汽车DC-DC模块、车载充电机等）进行BCI大电流注入抗扰度测试。

     BCI大电流注入抗扰度测试是利用电流注入探头通过将电流直接感应到连接线束进行抗扰性试验的一种方法。该注入探头是由一个耦合钳组成，被测系统的电缆从耦合钳中穿过，然后通过改变感应信号的频率进行抗扰性试验。
 

      将电流探头夹在未绝缘的导体上时，一定要格外的小心，建议在组装和拆卸测试装置时为测试项目断电。将所有穿过探头孔的导体放在孔的中心位置，以提供额外的电压击穿保护。请勿使未绝缘的电流探头连接器和电缆连接器与接地层或其他相邻导体接触，以免发生不必要的意外。

      其中，在BCI测试中使用的电流注入探头类似于用于军事传导发射（CE）静止的电流探头。电流注入探头充当单匝初级，多匝次级变压器，在被测电源线或信号线中放置低串联阻抗，同时能够将可用信号驱动到50ohm接收器中。电流注入探头的特征在于其传输阻抗ZT，即标准负载的输出电压比，除以流经探头窗口区域的净电流。

      当电流注入探头围绕电源线或信号线放置时，它具有类似的芯材料，但绕组较重，可充当多匝初级和单匝次级变压器。因此，当与被测电缆（CUT）串联放置时，它为磁化率信号源提供（标称）50欧姆负载，同时提供较低的磁化率信号源阻抗。

大电流注入探头所在位置距EUT的距离d如下(替代法)：

d = (150 ± 10) mm
d = (450 ± 10) mm
d = (750 ± 10) mm

测试结果性能的判断依据如下：
 

Class A: EUT功能或性能一直保持正常，无任何异常现象。
Class B: 所有功能或性能在干扰状态下，一个或者多个功能或者性能偏移指定的容差，但所有功能或性能在干扰移除以后能恢复到规定的容差限值以内。并且存储数据不能有任何异常现象。
Class C: 一个或者多个功能或性能暂时丧失，但在施加干扰之后EUT能自动恢复到正常模式。
Class D: 一个或者多个功能或性能暂丧失，但在施加干扰之后通过人为的干预能自动恢复到正常模式。
Class E: 一个或者多个功能或性能暂时丧失，并且不能自动恢复到正常模式。