王兰
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LM4041-N使用保险丝和Zener-Zap在晶片排序时,反向击穿或基准电压校正,以确保主要部件在25C时的准确度超过0.1%(A级)。带隙参考温度漂移,曲率校正和低动态阻抗,确保稳定的反向击穿电压精度在广泛的工作温度和电流。
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