热管理：利用光纤传感器监测结温

结温(Tj)对于确定半导体器件的功率循环能力至关重要。它是提取绝缘栅双极型晶体管(IGBT)热特性、阐述寿命法则以及研究功率芯片稳定性的基础。

新一代光纤温度传感器能够实现对这些关键参数的更可靠直接测量，从而改进功率模块老化和失效模式分析。它们可通过嵌入式仪器预测模块寿命终点，并通过状态监测实现预防性维护而非纠正性维护。
 

功率循环与任务分析

准确测量结温对于提取IGBT的热特性、阐述寿命法则以及研究功率芯片的稳定性至关重要。这些过程深入阐述了功率模块的老化和失效模式。这些测量通常在控制条件下短时间内进行，传感器很少永久固定在芯片或引线上，以便重复使用。

光纤传感器提供以下优势：

测量结果的可重复性和一致性

有无凝胶的传感器封装

小型刚性探头，便于精确定位

技术人员无能量传递风险

毫秒级响应时间

状态监测

主动监测旨在预测难以接近或集成于关键系统(如海上发电机、海底环境、高功率密度多芯片模块和关键基础设施(如高速列车))中的功率模块的潜在问题。

光学传感器是基于温度预测老化的完美工具，因为它们在安装后不需要任何维护/校准。此外，工业转换器的设计和封装也不需要做任何修改。最后，在仪器安装后，功率模块可以在全功率和全电压下运行(代表实际运行条件)。