基于可靠性设计感知的EDA解决方案

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基于可靠性设计感知的EDA解决方案

产品可靠性,包括制造和运营方面,正在成为芯片-封装-系统迭代设计周期中设计的关键方面,尤其是那些有望承受更长使用寿命和可能的恶劣操作环境的产品,例如汽车电子系统、高性能计算 (HPC)、电信和人工智能应用。这些系统的特点是更高的功率密度、2.5D 和 3D 异构集成,需要仔细考虑基于多物理场的可靠性增强,同时解决不同可靠性要求之间的相互依赖性,这带来了重大挑战。下面这篇文章是ANSYS总部技术人员撰写的。本文介绍了基于多物理场考虑的可靠性设计 (DFR) 工作流程的创新 EDA 解决方案,跨越了 IP 级别、芯片和封装/PCB 级别。本文还概述了DFR增强的路线图,包括早期可行性分析和系统技术协同优化的自动化。

芯片

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结论

由于设计考虑了额外的物理因素,因此分析驱动的设计方法需要更先进、更精确和更优化的可靠性设计 (DFR) 实践,以保证产品的可靠性。本文概述的研究引入了一个旨在实现这一目标的多尺度、多物理场分析框架。

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