高倍金相自动测量显微镜无限远光学系统

描述

 

在武汉很多芯片企业,在封装车间使用高倍金相自动测量显微镜来检测芯片尺寸公差,其常见的成像参数是基于无限远光学系统设计的。为客户在检测过程中带来了高质量的成像。让测量员在细微的检查点中,轻松识别测量位置。这类物镜在无限远处形成图像,是通过在物镜与目镜之间的主镜筒中巧妙地设置镜筒透镜,构建了一个能够形成中间图像的光学系统。无限远光学系统的好处在于,它允许光线在穿过物镜后,与光轴平行的部分能够在所谓的“无限空间”中自由、有效地传播至镜筒透镜。这一特性使得在无限空间内灵活添加各种辅助组件成为可能,比如微分干涉对比(DIC)棱镜、偏振镜等,从而在不影响焦点和像差校正的前提下,极大地丰富了显微镜的功能性和实用性。

测量(图片中物镜有∞符号的及为无限远光学系统)

其原理在于,通过将物镜的像方焦点设计在无限远,不仅简化了光路设计,还提高了系统的灵活性和扩展性。未来,随着光学技术的不断进步,无限远光学系统有望在显微镜领域实现更广泛的应用,比如更高分辨率的成像、更精细的样品分析等,进一步推动显微镜技术的革新与发展。

 

除了正确的使用设备外,为了确保高倍金相自动测量显微镜的镜物镜始终处于最佳工作状态,还需要联合设备部做好镜头的保养计划:

定期清洁:使用柔软的布或麂皮,轻轻擦拭物镜表面,去除灰尘和指纹。如有难以去除的污渍,可使用专用的镜头清洁剂或异丙醇与蒸馏水混合液进行擦拭。

防尘措施:在不使用显微镜时,应使用防尘罩盖住,以防止灰尘进入显微镜内部。同时,定期用吹尘球或软刷清除物镜上的灰尘。

避免碰撞:在搬运或移动显微镜时,应小心轻放,避免物镜与其他物体发生碰撞或刮伤。

​定期检查:定期检查物镜的成像质量,如发现像差增大或成像模糊,应及时联系专业人员进行检查和维修。

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