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【作者】:卫宁;王剑峰;杜婕;周聪莉;郭旗;文林;
【来源】:《信息与电子工程》2010年01期 【摘要】:用特种复合屏蔽材料和缝焊封接工艺进行抗辐射封装,在普通封装存储器28C256的基础上,研制了抗辐射封装加固存储器LS28C256R。设计专用试验测试威廉希尔官方网站 板和测试软件,以进行存储器器件加电工作条件下电子加速器辐照试验的动态测试。辐照对比试验结果表明,加固存储器LS28C256R的抗电子源辐照能力比普通封装存储器28C256提高1~2个数量级,为商用成品(Commercial Off-The-Shelf,COTS)器件在空间领域中的应用提供了技术支撑。 【关键词】:抗辐射封装;;屏蔽;;存储器芯片;;电子辐照试验 【DOI】:CNKI:SUN:XXYD.0.2010-01-022 【正文快照】:空间辐射对互补金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide Semiconductor,CMOS)器件产生电离辐射总剂量效应、单粒子效应等。空间辐射主要来自宇宙射线、太阳辐射和Van Allen辐射带。在低地轨道(Low Earth Orbit,LEO)、太阳同步轨道(Sun Synchronous Orbit,SSO)和地球同步轨
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