引用: zhangzhcheng 发表于 2017-10-21 17:19
高的时候会有千分之二三的失效,这个跟元器件厂商讨论过,也请他们做调整。。。不过没有方向,不知道如何去降低这个概率。。。
引用: 王栋春 发表于 2017-10-20 20:13
感觉还是元件质量问题,概率问题
引用: 94xiehang 发表于 2017-10-20 20:42
理论可行
引用: zhangzhcheng 发表于 2017-10-21 17:16
谢谢。。。有遇到类似的问题么。。。这个可能是什么问题导致的呢?
引用: 王栋春 发表于 2017-10-21 20:59
这个问题应该不可避免
引用: zhangzhcheng 发表于 2017-10-23 15:58
原先用400超快恢复的管子 ,基本没有这种问题。后来换成这款肖特基就持续有这问题。怀疑是耐压和漏电流导致的,这块也有请厂商加严管控,小批量实验的结果还没出来。前辈,请教还有可能是什么参数影响呢,结电容的差异会导致材料击穿么? ...
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