请问ADC有效位数测试，AD网上有标准的测试方法文档吗？

测试有效位数（ENOB），需要测试SINAR,都是使用相干采样，采集整数周期的信号，然后进行FFT频谱分析计算，信号频谱为一根线。
如果使用非相干采样，必须加窗处理，信号频谱会展宽，幅度会下降，那么需要统计信号周边几个点来当做信号的能量呢?即便是这样，ENOB的性能也没有同步相干采样好吧？ 有人研究过这个问题吗？

申请个评估套件，或者用在线工具Virtual Eval试下呢
http://www.analog.com/cn/products/analog-to-digital-converters/ad9653.html#product-tools

AD官方数据手册标的值或者AD公司测试时是使用的相干采样还是非相干采样？