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首先谈谈我们是如何测量ADC性能的吧,ADC芯片是AD9218,模拟信号是单端信号,所以参与AD8318进行单端转差分,输入DC耦合。
所以进行ADC的线性度测量的时候,通过信号源提供0mV到1000mV的DC量测试多个点,然后从中分析ADC的线性度参数。 网上说这种测试方法不能够完整反映出ADc的性能参数。而且,后期可能会改版为AC耦合,就更不能采用这样的方法来测量ADC了。 我的问题是有什么更好更简便的方法来测量ADC的静态参数? |
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