半导体组件参数分析

利用SMU(Source measurement unit)供应电压或电流，验证与量测半导体组件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲线等)。


iST宜特检测可协助验证及量测半导体电子组件的参数与特性，如电容-电压特性曲线、电压-电流(IV)、电阻、电容、电感值量测或信号波形等，藉此了解组件的故障行为，以利后续的分析动作。