影响双
电源放大器总谐波失真加噪声(THD+N) 特性的主要因素是输入噪声和输出级交叉失真。单电源放大器的THD+N性能源于放大器的输入和输出级。然而,输入级对THD+N的影响又让单电源放大器的这种规范本身复杂化。
有两种单电源放大器拓扑可以接受电源之间的输入信号。图1a所示拓扑具有一个互补差动输入级。在该拓扑中,放大器的输入位于负轨附近时,PMOS晶体管为“开”,而NMOS晶体管为“关”。当放大器的输入更接近于正电压轨时,NMOS晶体管为“开”,而PMOS晶体管为“关”。
这种设计拓扑在共模输入范围会存在极大的放大器失调电压差异。在接地电压附近的输入范围,PMOS晶体管的失调误差为主要误差。在正电源附近的区域,NMOS晶体管对主导失调误差。由于放大器的输入通过这两个区域之间,因此两个对均为“开”。