惠瑞捷
半导体科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频（RF）测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力，是测试新式的高集成度组件（内含射频、混合信号、数字、
电源管理、以及嵌入式或堆叠式内存等
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），以及低集成度射频收发器所不可或缺的工具。惠瑞捷针对V93000 SoC测试系统开发Port Scale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整合组件制造商、以及半导体委外封装及测试公司目前和未来的需求。
惠瑞捷半导体科技有限公司业务与服务支持副总裁Pascal Ronde表示：“为了生产今日新一代移动通讯用消费性
电子产品中使用到的新式高整合度组件，我们的客户面临了极大的挑战。V93000机台的架构不仅可以让我们加入这项射频测试能力，而且还能达到非凡的速度，同时依然维持最低的测试成本。”
今天，射频的应用已十分普遍，从移动电话到卫星导航设备、调频器（Tuner）和机顶盒（Set-top Box）等各式各样的无线装置和通讯应用都会用到射频组件。另外，支持WiMAX、WLAN、Bluetooth及UWB等标准的桌上型及笔记型计算机也会用到含有射频威廉希尔官方网站
的组件。过去，射频组件都是一个个单独的零件，现在，将多个射频零件整合在单一颗IC中已越来越常见。同样地，诸如行动电话等装置的设计需符合多个地区采用的标准，如GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE和EV-DO，因此，过去只要包含一组接收器的设计现在经常得包含多达四组或更多组射频收发器。当这些不同的射频通讯标准全部整合在单一个射频威廉希尔官方网站
中时，会大幅提高测试的挑战性。惠瑞捷预先看到了这种新的测试需求，了解客户不论面对的是高整合度或低整合度的射频组件，都希望尽可能维持最低的测试成本（COT），因而着手开发出Port Scale射频测试解决方案。
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