2、天线测量的误差
1)有限测试距离所引起的误差
设待测的是平面天线,接收的来波沿其主波束的轴向.若测试距离大小,由待测天线之不同部位所接受的场不能相同,因此具有平方根律相位差。若待测天线恰位于源天线远场区的边界2D2/λ,其口径边缘与相位中心的场存在22.5度的相位差.若测试距离加倍,在相位差减半.
对于测量中等旁瓣电平的天线,距离2D2/λ通常已经足够,测出的增益约偏小0.06dB.测试距离缩短会使测量误差迅速增大,旁瓣会与主波束合并成肩台式,甚至合为一体..通常0.25 dB的锥销使测出的增益降低约为0.1 dB,并造成近旁瓣的些许误差.
2)反射
直射波受从周围物体反射的干涉,在测试区域形成场的变化,由于该波波程差作为位置的函数而迅速变化,使起伏的长度属于波长的数量级..例如比直射波低20 dB的反射波,可引起-0.92～+0.83 dB的功率误差.，具体取决于两种之间的差异；相位测量的误差范围为±5.7°.但若反射波的场比直射波低40dB,则侧出的幅度与相位分别仅有±0.09与±0.6°的误差.
反射在低旁瓣的测量中特别有害.一项很小的反射通过主瓣耦合到待测天线,可以完全掩盖住耦合到旁瓣的直射波.如果相耦合的直射和反射波强度相等,则测出的旁瓣电平会抬高6 dB左右,或者在测得的波瓣图中成为零点.
3)其他误差
还可能导致天线测量产生误差的因素有:
低频时与电抗近场的耦合可能比较显著.;测量天线的对准误差;其他干扰信号;测试电缆所引起的误差等.
个人观点如下：
1)静区
暗室静区位于以转台方位转轴和暗室的纵轴交点为中心
2)静区内反射电平：
像天线方面的暗室一般要求电性能根据你们测试的频率和测试精度来衡量，天线暗室一般指标要求30---50dB就可以了
3)静区内场幅度均匀性：纵向< ±2dB；横向< ±0.25dB；
4)静区内水平、垂直交叉极化特性：< -25dB;
5)多路径损耗：≦±0.20;
2、天线测量的误差
1)有限测试距离所引起的误差
设待测的是平面天线,接收的来波沿其主波束的轴向.若测试距离大小,由待测天线之不同部位所接受的场不能相同,因此具有平方根律相位差。若待测天线恰位于源天线远场区的边界2D2/λ,其口径边缘与相位中心的场存在22.5度的相位差.若测试距离加倍,在相位差减半.
对于测量中等旁瓣电平的天线,距离2D2/λ通常已经足够,测出的增益约偏小0.06dB.测试距离缩短会使测量误差迅速增大,旁瓣会与主波束合并成肩台式,甚至合为一体..通常0.25 dB的锥销使测出的增益降低约为0.1 dB,并造成近旁瓣的些许误差.
2)反射
直射波受从周围物体反射的干涉,在测试区域形成场的变化,由于该波波程差作为位置的函数而迅速变化,使起伏的长度属于波长的数量级..例如比直射波低20 dB的反射波,可引起-0.92～+0.83 dB的功率误差.，具体取决于两种之间的差异；相位测量的误差范围为±5.7°.但若反射波的场比直射波低40dB,则侧出的幅度与相位分别仅有±0.09与±0.6°的误差.
反射在低旁瓣的测量中特别有害.一项很小的反射通过主瓣耦合到待测天线,可以完全掩盖住耦合到旁瓣的直射波.如果相耦合的直射和反射波强度相等,则测出的旁瓣电平会抬高6 dB左右,或者在测得的波瓣图中成为零点.
3)其他误差
还可能导致天线测量产生误差的因素有:
低频时与电抗近场的耦合可能比较显著.;测量天线的对准误差;其他干扰信号;测试电缆所引起的误差等.
个人观点如下：
1)静区
暗室静区位于以转台方位转轴和暗室的纵轴交点为中心
2)静区内反射电平：
像天线方面的暗室一般要求电性能根据你们测试的频率和测试精度来衡量，天线暗室一般指标要求30---50dB就可以了
3)静区内场幅度均匀性：纵向< ±2dB；横向< ±0.25dB；
4)静区内水平、垂直交叉极化特性：< -25dB;
5)多路径损耗：≦±0.20;
举报
