芯片功能好坏定性很简单,要定量检测参数那就复杂了,根本就没人傻到每个都去检测。更不用说检测“芯片是否已经老化”了
“检测”是个很大的范畴,不同人不同要求,质量控制是个很大很大的话题,不是那么简单的。
实际上估计LZ根本就不需要检测什么参数、芯片老化,而只是需要检测"好坏":lol
芯片功能好坏定性很简单,要定量检测参数那就复杂了,根本就没人傻到每个都去检测。更不用说检测“芯片是否已经老化”了
“检测”是个很大的范畴,不同人不同要求,质量控制是个很大很大的话题,不是那么简单的。
实际上估计LZ根本就不需要检测什么参数、芯片老化,而只是需要检测"好坏":lol
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