多设备测试
随着4G引入了众多新的LTE-FDD和LTD-TDD频段,测试技术也得到发展,每个测试站都可以进行多设备测试(也称为多DUT)。5G的频段数量继续大幅增长,有更多天线支持新的中频带频谱和MIMO技术,这也为制造测试带来了新的挑战。测试的复杂性更高,每个设备的测试时间也更长。在5G中,利用每个测试仪实施多DUT测试,可以通过更大的容量来分担增加的测试时间,从而获得更高的每小时特定测试量(UPH)。图2给出了一个标准工厂生产设置,其中有4个设备通过软件测试程序与硬件测试仪单元相连。
图2:单个测试仪可以并行测试多个设备。
图3展示了如何通过并行测试多个设备来最大限度地提升测试设备利用率,同时最大程度减少空闲时间(例如DUT控制和稳定时间)。
图3:工厂通过单个设置测试多个设备时,可以更好地利用资源。
多设备测试
随着4G引入了众多新的LTE-FDD和LTD-TDD频段,测试技术也得到发展,每个测试站都可以进行多设备测试(也称为多DUT)。5G的频段数量继续大幅增长,有更多天线支持新的中频带频谱和MIMO技术,这也为制造测试带来了新的挑战。测试的复杂性更高,每个设备的测试时间也更长。在5G中,利用每个测试仪实施多DUT测试,可以通过更大的容量来分担增加的测试时间,从而获得更高的每小时特定测试量(UPH)。图2给出了一个标准工厂生产设置,其中有4个设备通过软件测试程序与硬件测试仪单元相连。
图2:单个测试仪可以并行测试多个设备。
图3展示了如何通过并行测试多个设备来最大限度地提升测试设备利用率,同时最大程度减少空闲时间(例如DUT控制和稳定时间)。
图3:工厂通过单个设置测试多个设备时,可以更好地利用资源。
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