为了说明实现这一测试方案所达到的结果，我们用四个源表的测试系统对一个48×64的OLED显示器进行了正向电流、电阻和反向偏置的测量。测量速度被设定为1个NPLC（即，积分时间 = 16.7毫秒），并有1秒的信号源延迟。该延迟可以保证在测试开始前信号达到稳定状态。图1给出了对一个认为有缺陷的显示器的像素电阻的测试结果。测试数据表明几乎所有的像素都有相对很高的“导通”电阻，即 》 100kΩ。其中的两个像素有非常低的电阻，一个位于第3行第60列，测得的电阻约为1kΩ；另一个位于第4行第37列，测得的电阻在1kΩ与100kΩ之间。实际的动态电阻可以计算为：
Rd = Vpixel / Ipixel
式中的Vpixel和Ipixel分别是像素的电压和电流。在2V偏压下，典型的像素电流大约为20nA，这相当于一个108Ω的动态电阻。因此，这两个动态电阻位于1kΩ与100kΩ之间的像素看来是有缺陷的。
图1. 电阻与像素的关系图，所加的偏压为Vbias = 2V
图2示出了另一个显示器的正向电流损耗与像素之间的关系，其中的Vbias = 6V。几乎所有的像素都表现出大约11-13μA的正向电流损耗。对2400型源表设定了1mA的正向电流限值（compliance）或保护电流值，以防止对显示器流过太大的电流而造成损坏。
图2. 电流消耗与像素的关系图，所加的偏压为Vbias = 6V
为了对测试系统中每一个信号通路的漏电流的残余测量误差进行测量，就需要把一块尺寸与OLED显示器完全一样的玻璃片插入测试夹具内。然后在施加Vbias = -6V的偏压后作一次扫描。图3给出了这个扫描的结果。在任何一个像素位置上的电缆、继电器和测试夹具的漏电流总和均小于80pA。在这些测试中，还考虑到了每个2400的“零点误差”；所谓“零点误差”是指在0V偏压下的电流偏离值。
图3. 测试系统的残余漏电流与像素的关系图，所加的偏压为Vbias = -6V
图4给出了在Vreverse = 6V下的反偏测量的结果。对于这个测试，我们把积分时间设置为10 NPLC，把信号源延迟时间设置为15秒。
图4. 一个48×64显示器的反偏电流与像素的关系图，其中Vreverse = 6V
为了说明实现这一测试方案所达到的结果，我们用四个源表的测试系统对一个48×64的OLED显示器进行了正向电流、电阻和反向偏置的测量。测量速度被设定为1个NPLC（即，积分时间 = 16.7毫秒），并有1秒的信号源延迟。该延迟可以保证在测试开始前信号达到稳定状态。图1给出了对一个认为有缺陷的显示器的像素电阻的测试结果。测试数据表明几乎所有的像素都有相对很高的“导通”电阻，即 》 100kΩ。其中的两个像素有非常低的电阻，一个位于第3行第60列，测得的电阻约为1kΩ；另一个位于第4行第37列，测得的电阻在1kΩ与100kΩ之间。实际的动态电阻可以计算为：
Rd = Vpixel / Ipixel
式中的Vpixel和Ipixel分别是像素的电压和电流。在2V偏压下，典型的像素电流大约为20nA，这相当于一个108Ω的动态电阻。因此，这两个动态电阻位于1kΩ与100kΩ之间的像素看来是有缺陷的。
图1. 电阻与像素的关系图，所加的偏压为Vbias = 2V
图2示出了另一个显示器的正向电流损耗与像素之间的关系，其中的Vbias = 6V。几乎所有的像素都表现出大约11-13μA的正向电流损耗。对2400型源表设定了1mA的正向电流限值（compliance）或保护电流值，以防止对显示器流过太大的电流而造成损坏。
图2. 电流消耗与像素的关系图，所加的偏压为Vbias = 6V
为了对测试系统中每一个信号通路的漏电流的残余测量误差进行测量，就需要把一块尺寸与OLED显示器完全一样的玻璃片插入测试夹具内。然后在施加Vbias = -6V的偏压后作一次扫描。图3给出了这个扫描的结果。在任何一个像素位置上的电缆、继电器和测试夹具的漏电流总和均小于80pA。在这些测试中，还考虑到了每个2400的“零点误差”；所谓“零点误差”是指在0V偏压下的电流偏离值。
图3. 测试系统的残余漏电流与像素的关系图，所加的偏压为Vbias = -6V
图4给出了在Vreverse = 6V下的反偏测量的结果。对于这个测试，我们把积分时间设置为10 NPLC，把信号源延迟时间设置为15秒。
图4. 一个48×64显示器的反偏电流与像素的关系图，其中Vreverse = 6V
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