随着
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集成度的提高，威廉希尔官方网站
愈加复杂，要完成一个威廉希尔官方网站
的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对威廉希尔官方网站
系统的测试结果是否容易被观测到。
在集成威廉希尔官方网站
（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成威廉希尔官方网站
时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是威廉希尔官方网站
和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。
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