芯片测试与失效分析

wangka

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DFT是什么？
DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)，
可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是威廉希尔官方网站和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。

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回帖（416）

夏

2015-12-23 09:38:18

谢谢啦~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~

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刘通云

2016-1-11 12:54:29

good。。。。。。。。。。。。

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h1654155945.1869

2016-1-12 07:59:34

受到警告

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sun403

2016-1-14 11:22:57

谢谢分享，学习一下

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yes616035186

2016-1-20 11:55:49

为啥要隐藏呢

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