芯片测试与失效分析
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DFT是什么?
DFT在芯片设计领域的含义,即可测性设计(Design for Test),
可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是
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和芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。
DFT工程师经典教程书籍
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(416)
sina_1257419020
2012-12-28 15:49:32
谢谢分享
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于小二
2013-1-9 10:45:38
感谢分享
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zhenshi
2013-4-7 15:44:59
先下下来看看,谢谢楼主
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njh520
2013-5-5 16:49:30
不错,看下.........
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许文科
2013-5-20 16:52:57
下来看看,虽然不做这个
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