STM32L011的ADC采样值为什么会不准确呢

　　最近在使用STM32L011的ADC时，发现ADC采样值极其不准确。经过查找资料，和反复测试，总算摸出点门道。
　　如将VDDA接到VDD，那么电源的波动会极大的影响ADC精度。
　　不过使用内部参考电压可以计算实际的VDDA电压。
　　
　　说明：
　　VREFINT_CAL：芯片出厂时固化在存储器中的。使用时需要通过软件读取。
　　VREFINT_DATA：ADC读取VREFINT（内部参考电压通道ch17）得到的值，每次采样序列，将ch17一并采集，用来后续的AD值补偿计算。
　　如何读取VREFINT_CAL？
　　首先，找到芯片的datasheet，是所使用的那款芯片的数据手册，因为同一系列的不同芯片，可能存在区别。例如，我需要找到的datasheet标题是这个
　　
　　搜索：VREFINT_CAL
　　
　　得到VREFINT_CAL的地址后，使用语句
　　#define VREF_CAL *（__IO uint16_t *）（0x1FF80078） 然后data1 = VREF_CAL；就可以了。
　　怎样计算得到一个与电源电压无关的绝对精确的AD值？
　　
　　使用这个公式就可以了。
　　说明：
　　VREFINT_CAL：使用前述的读取语句data1 = VREF_CAL；从芯片存储器中读出；
　　ADC_DATAx：你需要测量的通道，使用ADC读出；
　　VREFINT_DATA：前述，内部参考电压通道（ch17）读出的值；
　　full_SCALE：上面已经解释很好了。取值2^n-1，n是分辨率。