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如何通过边界扫描测试进行差分信号测试?
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我想使用边界扫描测试在
STM32
F407VG 发现板上测试差分信号。我知道这个 soc 支持边界扫描测试,但是否也可以通过相同的方式测试/测量差分信号?
回帖
(1)
李芳
2023-1-31 15:31:08
正确,STM32F407只支持1149.1,不支持1149.6。
直到现在,STM32 都不支持 1149.6 ,正如您在 BSDL 文件中找到的那样(昨天我仔细检查了所有这些文件)。
正确,STM32F407只支持1149.1,不支持1149.6。
直到现在,STM32 都不支持 1149.6 ,正如您在 BSDL 文件中找到的那样(昨天我仔细检查了所有这些文件)。
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