ST意法半导体
直播中

张红

7年用户 1288经验值
私信 关注
[问答]

如何通过边界扫描测试进行差分信号测试?

我想使用边界扫描测试在 STM32F407VG 发现板上测试差分信号。我知道这个 soc 支持边界扫描测试,但是否也可以通过相同的方式测试/测量差分信号?









回帖(1)

李芳

2023-1-31 15:31:08
正确,STM32F407只支持1149.1,不支持1149.6。
直到现在,STM32 都不支持 1149.6 ,正如您在 BSDL 文件中找到的那样(昨天我仔细检查了所有这些文件)。
举报

更多回帖

发帖
×
20
完善资料,
赚取积分