L220 MBIST控制器技术参考手册

MBIST是测试嵌入式存储器的行业标准方法。MBIST通过根据测试算法执行对存储器的读取和写入序列来工作。存在许多行业标准的测试算法。

MBIST控制器生成对RAM的所有位置的正确读取和写入序列，以确保单元正确操作。在这样做的过程中，在MBIST使用的地址和数据路径中实现了一些额外的测试覆盖。必须仅将L220 MBIST控制器与L220缓存控制器一起使用，才能执行＜Level 2＞缓存RAM的内存测试。