SSW中LBIST触发ESR0脉冲的原因？

SSW（系统软件）中的LBIST（逻辑内置自测试）是一种用于检测和诊断集成威廉希尔官方网站 中逻辑故障的技术。在TC377威廉希尔官方网站 板上，ESR0（事件存储寄存器0）用于记录和存储与系统相关的事件。

当在UCB（用户控制块）中启用LBIST时，ESR0在释放4.4ms后会有一个579us脉冲。这个脉冲的原因可能是：

1. LBIST初始化：当LBIST被启用时，系统可能需要一些时间来初始化LBIST过程。这个初始化过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。

2. 测试模式切换：启用LBIST后，系统可能需要切换到测试模式。这个模式切换过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。

3. 测试时序：LBIST测试可能需要特定的时序来执行。这个时序可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。

4. 测试结果记录：LBIST测试完成后，系统可能需要记录测试结果。这个过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。

如果在UCB中禁用LBIST，ESR0将直接释放，这意味着没有LBIST相关的操作，ESR0不会受到任何影响。

如果在cstart条目中添加了一个无尽的while循环，脉冲仍然会出现在相同位置，这表明脉冲是在cstart()执行之前产生的。这可能是由于LBIST初始化或测试模式切换等操作在cstart()执行之前已经完成。

总之，ESR0上的579us脉冲可能是由于LBIST初始化、测试模式切换、测试时序或测试结果记录等原因引起的。要确定具体原因，需要进一步分析系统软件和硬件设计。