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侯正跃

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擅长:电源/新能源 EMC/EMI设计
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[问答]

电感测匝间耐压后不良

纳米晶磁芯与镍锌磁芯测试完匝间耐压后复测电感量,发现电感量掉得很厉害,同类型产品测试完电阻后还没开始匝间耐压的,电感量也掉得很厉害,磁芯是否是被磁化了,如何判断不良的原因?

回帖(1)

bigbangboom

2024-9-6 16:05:50
在这种情况下,我们需要按照以下步骤来判断不良的原因:

1. 首先,我们需要了解电感量下降的原因。电感量下降可能是由于磁芯的磁化、磁芯材料的损伤、线圈的损坏等原因造成的。

2. 检查磁芯是否被磁化。可以通过以下方法来判断:
   a. 使用磁力计测量磁芯的磁场强度。
   b. 观察磁芯表面是否有磁性物质附着。
   c. 将磁芯放入强磁场中,观察其是否被磁化。

3. 检查磁芯材料是否损伤。可以通过以下方法来判断:
   a. 观察磁芯表面是否有裂纹、划痕等损伤。
   b. 使用显微镜检查磁芯内部结构,看是否有损伤。

4. 检查线圈是否损坏。可以通过以下方法来判断:
   a. 观察线圈表面是否有破损、断裂等现象。
   b. 使用电阻测试仪测量线圈的电阻值,看是否在正常范围内。

5. 分析测试过程。回顾测试过程中的操作,看是否有可能导致电感量下降的因素,如测试电压过高、测试时间过长等。

6. 对比同类型产品。将不良产品与正常产品进行对比,分析两者之间的差异,找出可能导致电感量下降的原因。

7. 根据以上分析,确定不良原因。可能是磁芯被磁化、磁芯材料损伤、线圈损坏等原因造成的。针对不同原因,采取相应的措施进行修复或更换。

通过以上步骤,我们可以较为准确地判断不良的原因,并采取相应的措施进行处理。
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