SPEA H3560 - MEMS取放传送装置

型号: H3560

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SPEA

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SPEA在MEMS半导体测试分类机、分选设备设计制造有数十年的历史,公司推出的的H3560 - MEMS取放传送装置性能凸出,优势明显。H3560 具有所有的接触和界面被测器件所需要的模块如:准确和可靠的单框压接触,标准和定制插座封装的转换成套件,尺寸从2x2 mm 到 40x40 mm,并且能在不到5分钟内完成插座封装转换。


100% 可配置的输入输出

 

托盘输入装载机/卸载机

 

50 JEDEC 托盘容纳能力

在操作过程中装载/卸载托盘

精密单元为了预对准器件

 

 

批量输入 - 振动料斗单元

 

 

高操作自主性

通过高速摄像机的光学测试

在操作过程中补充振动料斗单元

可以同时安装托盘装载单元

 

批量输出 - 盒

 

  • 防静电
  • 镀锌铁板
  • 尺寸 314x130x70 mm

 

卷盘和卷带输出-卷盘分类单元

 

 

双输出卷盘

屏蔽卷带更换

胶带封之前,操作器件的1脚方向光学测试

 

高速、零震动处理

 

2电动测试头:每机动测试头携带16拾取测试头和视觉单元

直线电机的无摩擦动作

UPH高达12,300

控制轴的动作轮廓曲线设计为停止在零重力加速度及软地释放器件

 

 完整的系统集成

Ambient 32x测试治具↑↑

H3560 具有所有的接触和界面被测器件所需要的模块:

准确和可靠的单框压接触

标准和定制插座封装的转换成套件,尺寸从2x2 mm 到 40x40 mm

在不到5分钟内插座封装转换

 

完整MEMS的激励测试范围

惯性传感器-速率转台 

 

梯形速度剖面,可编程的速度

正弦速度、等速、合并正弦的剖面,都具有可编程的幅度和频率

 

磁敏和9自由度磁场仿真单元+速率转台 

 

磁刺激插座内亥姆霍兹线圈到6G

磁场偏差<1%

屏蔽周圍磁場

 

 

 接近传感器-光学仿真单元 

 

减少测试时间由于3个转塔单元上的测试站

16个器件并行2D码读取

并行的加载 / 卸载、2D码读取、测试

 

 

 紫外线传感器-太阳能模拟器

 

高精度的UV传感器测试,基于AAA级太阳能模拟器

回转单元为了屏蔽装载/卸载时间

嵌入式测试仪直接连接夹具板

 

 无氮三温调节系统

温度范围:-40÷+150°C

控温精度:±2°C

无除霜干预接触器之前

24小时/天的工作不中断

在环境温度下进行编程

热性能参数的精确跟踪

现场温度监测

 

 易于使用的操作软件 


 

通过托盘、分仓、输入/输出缓冲器的图形表示,H3560图形用户界面使处理器使用简单易学。不同的封装和测试的设置的变化又方便又快捷,而且系统提供给用户实时统计信息关于Jam、UPH、Bin、MTBS、插座产量。

 

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