就SpinalHDL的测试平台搭建进行说明
UVM sequence分层的几种体现
Arm上带DPDK的Open vSwitch测试系列
剑池产测功耗测试工位使用
如何实现信号电压幅值的一致性?
基于无线测试配置来研究和比较各种多DUT测试方案
求一种利用FPGA实现原型板原理图验证的新方法
为什么软件工程师都选择模式发生器?
DDS信号源如何应用于扫频测试技术?
如何正确的设置信号源和待测器件阻抗得到一个正确的输出?
有什么办法可以提高脉冲S参数的精度?
802.16-2004标准如何控制DUT?
五种不同的端接技术分享
块单独满足时序但在集成在一起时失败
AD9235BCP-65EBZ,用于评估AD9235BCP-65单ADC流水线65Msps 12位并行32引脚LFCSP
AD9235BCP-40EBZ,用于评估AD9235BCP-40单路ADC流水线40Msps 12位并行32引脚LFCSP的评估套件
AD9235-20PCB,用于评估AD9235BRU-20,20Msps,12位,单ADC并行28引脚TSSOP的评估套件
AD9235BCP-65EB,用于评估AD9235BCP-65单ADC流水线65Msps 12位并行32引脚LFCSP
有效控制多路电源输入的关断顺序避免DUT损坏
怎么测量天线阵列系统的插入损耗和插入相移变化量?