针对新型功率器件测试挑战，泰克解锁全新测试解决方案

中国北京2019年7月3日 – 在刚刚过去的PCIM Aisa展会上，泰克展示了功率器件全新测试方案，包括动态特性解决方案、静态特性解决方案、系统调试解决方案，整体解决方案助力工程师系统级优化设计。

当今功率半导体器件测试面临相当大的挑战，尤其是使用如碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）的先进材料制成的器件，通常这些新型器件的测试要求更高的电压和功率水平，更快的开关时间以及从晶圆级到封装器件的完整测试。高效率低功耗的功率器件对马达控制威廉希尔官方网站 和开关式电源等应用必不可少，对处理高功率和高电压/高电流也不可或缺。作为新型功率器件材料，GaN和SiC迅速引起人们的关注，与硅相比，GaN 和SiC 拥有大量的优势，包括：

·宽禁带，高电介质击穿电压，高工作温度

·高压功能，低导通电阻w

·芯片尺寸更小

·能够在高速度、高频率下工作

然而，传统差分探头不足以覆盖新的宽禁带半导体的特性范围的要求，新型功率器件测试存在诸多难点

·你是否能准确测试高侧门极威廉希尔官方网站 ？

·你会用实际测试来验证仿真结果吗？

·在测试中共模电压会导致哪些测试问题？

·你是否会用低侧试数据来推断高侧测试结果？

·你是否能够优化你的设计以达到最大的效率呢？

·在高侧电阻测试是否遇到障碍？

|| 功率器件动态特性测试解决方案

泰克推出了IGBT Town功率器件动态参数测试，可支持单脉冲、双脉冲及多脉冲测试方案，集成强大的发生装置，数据测试装置及软件。用户可以自定义测试条件，测试项目包含：Ton， Toff， td（on），td（off）， tf（Ic）， Eon， Eoff， tr（Ic） ，di/dt， dv/dt， Err， qrr， Irr 基于 IEC60747。

1）测试系统组成：

2）测试软件：

|| 功率器件静态特性测试解决方案

吉时利高功率参数曲线跟踪仪配置支持全系列器件类型和测试参数，包括特性分析工程师迅速开发完整的测试系统所需的一切。

开态测试

·从 fA 到 100A

·支持脉冲测试减少自热效应

·4线测试测量更低的导通电阻RdsOn

关态测试

·从mV到3kV，1fA电流分辨率

·过压保护模块确保低功率设备安全

CV（电容-电压）测试

·支持3KV CV测试功能

·自动计算Ciss， Coss， Crss等典型参数

|| 新型功率器件系统调试解决方案

当今一些电源电子拓扑中包含的超快功率半导体开关技术（如SiC或GaN）极难进行优化。SiC MOSFET和GaN FET开关电源转换器分析包是市场上唯一能够准确检定所有关键参数（用于优化采用SiC和GaN等技术的电源电子拓扑）的解决方案，其中包括：

·高端和低端上的栅极电荷和栅极驱动性能

·停滞时间优化，其中包括精确开机、关机和栅极驱动定时

·高端和低端开关上的 VGS、VDS 和 ID 测量

·开关损耗、传导损耗和磁损耗分析

泰克为您提供整体解决方案，助您系统级优化设计。泰克测试方案：