半导体新闻
每当半导体产业界要预测未来,摩尔定律(Moore’s Law)一直是个虽受时间磨损但总被提及的指标;但你可知道,其实在摩尔定律之外,还有许多SKC定律(Sinclair-Klepper- Cohen’s Law)定律、哥达德定律(Goddard’s Law)以及莱特定律(Wright’Law)的其他类似定律(注)?
最近美国麻省理工学院(MIT)针对以上定律在短期性与长期性预测方面的准确度做了一番评比,并表示他们的分析成果将改善未来有关技术演变、候选技术以及因应全球性变化之策略的预测准确度。
MIT 发现,整体看来,长期性预测方面表现最佳的是莱特定律,其准确度可超越摩尔定律,因为其结构视野来自于产量(units-of-production),而非绝对时间;举例来说,摩尔定律预测每18个月半导体元件电晶体密度将加倍,但莱特定律则预测,生产量数字增加,生产成本就会下降(无论其中花了多久时间)。
根据MIT研究,莱特定律──取航太工程师Theodore “T.P.” Wright之名──能在长期性预测方面更具准确度的原因,是因为能自动适应经济成长率。
MIT 以62种不同技术产品的实际成本以及产量等历史数据,包括电脑、通讯系统、太阳能电池、航空器与汽车…等等,代入莱特定律以及哥达德定律(认为进步只受经济规模的驱动)、SKC定律(是莱特定律与哥达德定律的结合)等其他定律,再利用历史数据可倒叙检视的特性来评比每种定律的精确度。
MIT对各种预测定律的评比结果显示,莱特定律在长期性预测方面的准确度表现最好(来源:MIT)
MIT 表示,其研究成果显示只要谨慎使用历史数据,未来技术的进展是可预测的,每年的典型精确度可达到约2.5%;该研究是由MIT教授Jessika Trancik、圣菲研究所(Santa Fe Institute)教授Bela Nagy,牛津大学(University of Oxford)教授Doyne Farmer以及St. JohnOs学院教授Quan Bu共同进行。
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