答疑解惑 | 激光位移传感器-正反射使用Q&A

描述

测量设备

明治的激光位移传感器MLD系列是一款高性能的非接触式测量设备,利用激光技术进行精确的距离测量。

明治产品阵容丰富,MLD系列产品具有多种型号和规格,以满足不同工业应用场景的需求。主要包括标准型MLD25系列、长距离检测MLD21系列和高精度全能型(正反射、漫反射)MLD33系列等多个型号,每个系列都有其独特的特点和适用场景。

以下是关于MLD系列产品-正反射原理的使用过程中常见的疑问,明治的技术支持团队统一来一 一解答。

 

 

提问

Qustions

&

解答

Answers

 

 

Q

 

能检测的物料有哪些?

1、平整的透明体

2、非透明体

3、高反光物体

4、镜面物体

 

Q

 

型号对应检测物厚度要求

 MLD33-L30

可检测的透明体厚度范围(Min0.7~1.0mm, Max4mm)

 

MLD33-L50

可检测的透明体厚度范围(Min1.0~2.0mm,Max10mm)

 

MLD33-L85

可检测的透明体厚度范围(Min3.0~5.0mm,Max20mm)

 

 

 

 

Q

 

最佳安装角度

每个量程的最佳安装角度都不同

 MLD33-L30

测量设备

MLD33-L50

测量设备

MLD33-L85

测量设备

 

 

Q

 

传感器无开关量输出信号怎么办?
 

开光量异常排查:

1. 排查开关量信号线有无接错

测量设备

2. 排查威廉希尔官方网站 电平是否和传感器的输出电平一致

3. 排查传感器示教设定有无成功

4. 排查传感器的工作电压是否正常

测量设备

 

 

 

 

Q

 

为什么传感器无模拟量输出信号?

 

模拟量异常排查:

1. 排查传感器模拟量输出方式(电压/电流)是否和客户输入端的接收方式一致

2. 排查传感器的模拟量输出线路是否接线正确

测量设备

 

3. 排查传感器的检测范围是否在正常范围内

4. 排查传感器的工作电压是否正常

测量设备

 

 

 

 

Q

 

传感器422通讯异常怎么办?

 

422通讯异常排查

1. 排查传感器串口接线是否正确

2. 排查传感器串口通讯参数是否正确

测量设备

 

3. 排查传感器发送的命令格式是否正确

4. 排查传感器的串口接口是否和客户户端的串口接口一致

测量设备

 

 

 

 

 

Q

 

如何调整测量模式

1.一个传感器检测透明体的厚度,需要把模式修改为测量两个波峰之间的距离

2.传感器只检测物体上表面-传感器的距离,需要把模式修改测量近端波峰的位置

3.传感器检测透明体下表面-传感器之间的距离,需要把模式修改测量远端波峰的位置

4.传感器检测反光性较差的物体时,需要把模式修改测量受光量较高的波峰位置

测量设备测量设备

 

 

 

 

Q

 

产品的指令
 

 

测量设备测量设备

 

 

Q

 

折射率

单个传感器检测透明体的厚度需要先读取该透明体的折射率,然后再把对应的折射率写入传感器

测量设备

 

 

 

 

Q

 

如何提升传感器输出的响应速度?

对于检测单一种类的镜面物体,可以把灵敏度设定为固定灵敏度,可提升传感器输出的响应速度

测量设备

 

 

 

Q

 

如何下载说明书?

点击下图即可进入下载页面↓↓↓

 

测量设备

 

 

 

Q

 

MLD系列-漫反射原理的答疑

点击下图即可跳转查看↓↓↓

测量设备

 

以上便是本期激光位移传感器MLD系列Q&A专栏中,我们为大家解答的的常见疑问。希望这些解答能够帮助大家更好地理解和使用我们的产品,提升工作效率和准确性。

我们深知,每一个应用场景都有其独特性和复杂性,可能还存在一些我们未能详尽解答的问题。因此,我们非常欢迎广大工程师们在使用过程中,继续积极向我们提问或反馈问题。您的每一个疑问和建议,都是对我们产品改进和完善的宝贵动力。

 

打开APP阅读更多精彩内容
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !

×
20
完善资料,
赚取积分