伯东企业（上海）有限公司

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• 发布了文章 2024-10-18 14:19

  Gel-Pak VRP 可变黏度防静电真空释放盒

  

  上海伯东美国 Gel-Pak VRP 真空释放盒相对于传统的真空释放 Vacuum Release 芯片盒, 有着优异的防静电性能, 但在使用中发现, VRP 的最低黏度 EH02 （对标 VR 的 XL 黏度）在一些特定的应用中存在黏度偏高的问题, Gel-Pak 针对这个问题提出了 VRP 防静电真空释放盒可变黏度的解决方法, 满足高宽深比器件, 微机电

  VRP 芯片 防静电

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• 发布了产品 2024-10-18 13:59

  inTEST 芯片高低温冲击热流仪

  

  产品型号：ATS-535 产地：美国 温度范围：-60 至+ 225°C 特点：集成空压机

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• 发布了方案 2024-10-18 13:42

  Aston Impact 高灵敏度质谱分析仪 CVD 清洗终点优化

  

  上海伯东日本 Atonarp Aston Impact 高灵敏度质谱分析仪, 基于四级杆的质量分离, Aston 质谱分析仪设计紧凑, 适用于气体分析和过程气体监测, 满足半导体工艺过程中, 沉积, 刻蚀, 光刻等气体分析.

  CVD 分析仪 半导体 质谱分析

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• 发布了方案 2024-10-18 13:33

  Aston 质谱仪等离子体刻蚀过程及终点监测

  

  刻蚀是半导体制造中最常用的工艺之一, 上海伯东日本 Atonarp Aston 质谱仪适用于等离子体刻蚀过程及终点监测 (干法刻蚀终点检测), 通过持续监控腔室工艺化学气体, 确保半导体晶圆生产的高产量和最大吞吐量.

  分析仪 半导体 监测 质谱分析

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• 发布了方案 2024-10-18 13:24

  Aston 质谱分析仪搭配 Scrubber 半导体尾气处理设备进行气体检测

  

  半导体工艺一般会产生各种工艺气体和颗粒材料副产品, 有害气体需要以受控方式进行处理. 上海伯东日本 Atonarp Aston 质谱分析仪与 Scrubber 半导体尾气处理设备联用, 对处理完的气体在线监测分析, 并对分析数据进行监控和记录, 使其符合环境法规.

  分析仪 半导体 气体检测

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• 发布了方案 2024-09-13 10:59

  铌酸锂 LiNbO3 薄膜 IBE 离子束刻蚀

  

  随着基于铌酸锂 LN 的光源, 光调制, 光探测等重要器件的实现, 铌酸锂 LN 光子集成芯片有望像硅基集成威廉希尔官方网站 一样, 成为高速率, 高容量, 低能耗光学信息处理的重要平台, LiNbO3 薄膜刻蚀成特定的图形才能用于芯片, 因 LiNbO3 惰性特性, 使用 ICP 或 RIE 工艺无法完成刻蚀, 上海伯东 IBE 离子束刻蚀机为铌酸锂 LiNbO3 薄膜刻蚀提供解决方案

  刻蚀机 离子束

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• 发布了文章 2024-09-13 10:53

  氦质谱检漏仪 ASM 340W 锂电池盖帽(盖板)检漏系统

  

  上海伯东氦质谱检漏仪 ASM 340W 适用于动力电池行业和汽车行业的检漏系统, 提供锂电池盖帽(盖板)检漏, 汽车压缩机真空检漏解决方案.

  动力电池 检漏仪 锂电池

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• 发布了文章 2024-09-13 10:38

  KRi 霍尔离子源 EH 2000 望远镜镜片光学镀膜应用

  

  上海伯东美国 KRi 大尺寸霍尔离子源 EH 2000 安装于高性能电子束光学镀膜机, 实现 300 mm 望远镜镜片镀膜.

  光学镜片 望远镜 电子束

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• 发布了方案 2024-09-13 10:28

  美国 Gel-Pak 应用于 VCSEL 芯片生产

  

  上海伯东美国 Gel-Pak 提供 VCSEL 芯片生产使用的 DGL 胶膜和真空释放托盘

  VCSEL 芯片

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• 发布了文章 2024-09-13 10:19

  美国 inTEST 高低温冲击热流仪助力半导体芯片研发

  

  上海伯东代理美国 inTEST 高低温冲击热流仪兼容各品牌半导体测试机, 可正确评估与参数标定芯片开发, 器件或模块研发, 品质检查, 第三方认证, 失效分析, FAE 等几乎所有流程, 高低温冲击测试作为一种常见的测试手段, 适用于 IGBT, MOSFET, 三极管, 二极管等各类半导体特性测试.

  半导体 芯片 高低温测试 高低温测试机

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