LTE测试技术原理及解决方案集锦

　　1.LTE技术概述

　　LTE的正式名称是3G Long Term Evolution（LTE），即3GPP长期演进（LTE）项目。 3GPP长期演进（LTE）项目是近两年来3GPP启动的最大的新技术研发项目，以OFDM/FDMA为核心的技术，与其说是3G技术的“演进”（evolution），不如说是“革命”（revolution）。LTE系统支持FDD和TDD两种双工方式。在这两种双工方式下，系统的大部分设计，尤其是高层协议方面是一致的。另一方面，在系统底层设计，尤其是物理层的设计上，由于FDD和TDD两种双工方式在物理特性上所固有的不同，LTE系统为TDD的工作方式进行了一系列专门的设计，这些设计在一定程度上参考和继承了3G TD-SCDMA的设计思想。 LTE着重考虑的方面主要包括降低时延、提高用户的数据率、增大系统容量和覆盖范围以及降低运营成本等。LTE的目标主要包括以下的内容：

　　– 支持1.25MHz～20MHz带宽；

　　– 极大提高峰值数据速率（在20MHz带宽下支持下行100Mbps、上行50Mbps的峰值速率）；

　　– 在保持现有基站位置的同时提高小区边缘比特速率；

　　– 有效提高频谱效率（3GPP版本6的2～4倍）；

　　– 将接入网时延降低到10ms以下；将控制平面时延降低到100ms以内；

　　– 降低空中接口和网络架构的成本；

　　– 支持增强的IP多媒体子系统（IP Multimedia Sub-system，IMS）和核心网；尽可能保证后向兼容，有效地支持多种业务类型，尤其是分组域（PS-Domain）业务（如VoIP等）；

　　– 优化系统为低移动速度终端提供服务，同时也应支持高移动速度终端；

　　– 支持增强型的广播多播业务；

　　– 系统应该能工作在对称和非对称频段；尽可能简化处于相邻频带运营商共存的问题

　　2.TD-LTE技术特点

　　LTE系统支持FDD和TDD两种双工方式。在这两种双工方式下，系统的大部分设计，尤其是高层协议方面是一致的。另一方面，在系统底层设计，尤其是物理层的设计上，由于FDD和TDD两种双工方式在物理特性上所固有的不同，LTE系统为TDD的工作方式进行了一系列专门的设计，这些设计在一定程度上参考和继承了TD-SCDMA的设计思想，下面我们对这些设计进行简要的描述与讨论。

　　3GPP LTE和之前的系统在空中接口上存在很大的不同，所以对于测试就提出了新的要求。基于在3G测试领域的丰富经验和领先地位，安捷伦对于LTE标准从早期的研发阶段就开始跟踪研究，积累了丰富的经验成果，目前不仅可以为LTE FDD，而且也可以为TD-LTE无线设备研发提供了完整的测试产品线。设备制造商自始自终都可以依赖于安捷伦公司的产品和专家级的支持。

　　无线帧结构

　　因为TDD采用时间来区分上、下行，资源在时间上是不连续的，需要保护时间间隔来避免上下行之间的收发干扰，所以LTE分别为FDD和TDD设计了各自的帧结构，即Type1和Type2，其中Type1用于FDD，而Type2用于TDD。

　　在FDD Type1中，10ms的无线帧分为10个长度为1ms的子帧，每个子帧由两个长度为0.5ms的slot组成。 在TDD Type2中，10ms的无线帧由两个长度为5ms的半帧组成，每个半帧由5个长度为1ms的子帧组成，其中有4个普通的子帧和1个特殊子帧。普通子帧由两个0.5ms的slot组成，特殊子帧由3个特殊时隙（UpPTS，GP和DwPTS）组成。

　　在LTE中TDD与FDD帧结构最显著的区别在于：在TDDType2帧结构中存在1ms的特殊子帧，该子帧由三个特殊时隙组成：DwPTS，GP和UpPTS，其含义和功能与TD-SCDMA系统相类似，其中DwPTS始终用于下行发送，UpPTS始终用于上行发送，而GP作为TDD中下行至上行转换的保护时间间隔。，三个特殊时隙的总长度固定为1ms，而其各自的长度可以根据网络的实际需要进行配置。

　　上下行的时间分配

　　TDD另外一个显著区别于FDD的物理特征是，FDD依靠频率区分上下行，因此其单方向的资源在时间上是连续的；而TDD依靠时间来区分上下行，所以其单方向的资源在时间上是不连续的，时间资源在两个方向上进行了分配。

　　下图是LTE TDD中支持的7种不同的上、下行时间配比，从将大部分资源分配给下行的“9:1”到上行占用资源较多的“2:3”，在实际使用时，网络可以根据业务量的特性灵活的选择配置。这样，在资源组成上TDD与FDD所固有的不同，成为了LTE中另一部分为TDD所进行的专门设计的原因。这一部分设计主要包括“物理层HARQ的相关机制”，以及“采用频分的随机接入信道”。

　　允许同一时间上存在多个随机接入信道（频分）是TDD上下行时分的结构形成的又一设计结果。在LTEFDD的设计中，同一时刻只允许一个随机接入信道的存在，即仅在时间域上改变随机接入信道的数量。而在TDD中，时间资源已经在上下行进行了分配，同时由于不同的上下行配比的存在，可能存在上行子帧数目很少的情况（如DL:UL=9:1），因此在TDD中需要支持频分的随机接入信道，即在同一时间位置上采用不同频率的区分提供多个随机接入信道，以为系统提供足够的随机接入的容量。

　　在FDD的情况下，上、下行的资源在单方向上都是连续的，而且子帧数目相等。因此，以下行为例，在进行物理层的HARQ时，下行数据与上行的ACK/NAK之间可以建立一对一的对应关系。与此不同的是，在TDD的情况下，单方向的资源不是连续的，因此可能无法获得对应的时间上的资源。另外，上下行配比的设置可能使得上下行的子帧数目不相等，因此无法建立一一对应的关系，所以这些都需要进行针对性的设计。在TD-LTE，为了解决以上问题，引入了Multiple ACK/NAK的概念，即使用一个ACK/NAK完成对前续若干个下行数据的反馈，这样就解决了上下行时隙不对称带来的反馈问题。在另一个方面，同时还减小了数据的传输时延，数据无需再等待到下一个上行时隙以进行反馈了。当然，该方案可能引起的不必要的过多重传也需要引起注意。

　　同步信道

　　同步信道是另一项体现不同双工方式的设计。LTE中用于小区搜索的同步信道包括“主同步信号”和“辅同步信号”。在两种帧结构中，同步信号具有不同的位置：在FDDType1中两个同步信号连接在一起，位于子帧0和5的中间位置；而TDD Type2中，辅同步信号位于子帧0的末尾，主同步信号位于特殊子帧，即DwPTS的第三个符号。在两种帧结构中，同步信号在无线帧中的绝对位置不相同，更为重要的是，主、辅同步信号的相对位置不同：在FDD中两个信号连接在一起，而在TDD中两个信号之间有两个符号的时间间隔。由于同步信号是终端进行小区搜索时最先检测的信号，这样不同的相对位置的设计使得终端在接入网络的最开始阶段就可以检测出网络的双工方式，即FDD或者TDD。

　　随机接入前导

　　随机接入前导（Random Access preamble）的设计是LTE对TDD的另一项特殊设计。在LTE中，随机接入序列采用如下图所示的5种随机接入序列格式。其中最后一种随机接入序列格式是TDD所特有的，由于其长度明显短于其它的4种格式，因此又称为“短RACH”。采用短RACH的原因也是与TDD关于特殊时隙的设计相关的，如同图中所描述的，短RACH在特殊时隙的最后部分（即UpPTS）进行发送，这样利用这一部分的资源完成上行随机接入的操作，避免占用正常子帧的资源。采用短RACH时，需要注意的一个主要问题是其链路预算所能够支持的覆盖半径，由于其长度要大大的小于其它格式的RACH序列，因此其链路预算相对较低，相应的适用于覆盖半径较小的场景（根据网络环境的不同，约700m～2km）。
　　更多LTE测试资讯与技术文章，可参阅电子发烧友Designs of week栏目——“化解4G质量难题？LTE测试出狠招！”

是德科技TD-LTE基站性能测试方案

　　引言

　　LTE（Long Term Evolution长期演进）技术是第三代移动通信演进的主要方向。作为一种先进的技术，LTE系统在提高峰值数据速率、小区边缘速率、频谱利用率、控制 面和用户面时延以及降低运营和建网成本等方面拥有巨大的优势。同时，LTE系统与现有系统（2G/2.5G/3G）能够共存，并且实现平滑演进。

　　LTE系统按照双工方式分为频分双工（FDD）和时分双工（TDD）两种。其中LTE-TDD制式相对于FDD制式具有频谱利用灵活、支持非对称业务等诸多优势，是中国通信业界力推的国际标准。

　 　系统吞吐率是衡量TD-LTE基站综合性能的重要指标。吞吐率的测试需要基站（eNB）与测试仪器（模拟UE）之间实现实时反馈并动态调整。测试仪器不 仅需要能够生成符合3GPP标准的TD-LTE 上行信号，同时还需要模拟相应的信道衰落模型，并且根据基站下发的ACK/NACK指令实时地调整发射信号的编码冗余因子，以模拟真实的通信环境。本方案 采用是德科技基带信号发生器与信道仿真仪N5106A PXB或是德科技最新信号发生器N5182B/N5172B作为测试平台，通过Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE测试信号并经过信道衰落后送给基站进行解码从而可以统计出基站的吞吐率。

　　1 HARQ测试原理

　　1.1 上行HARQ方式

　 　LTE系统将在上行链路采用同步非自适应HARQ技术。虽然异步自适应HARQ技术与同步非自适应技术比较，在调度方面的灵活性更高，但是后者所需的信 令开销更少。由于上行链路的复杂性，来自其他小区用户的干扰是不确定的，因此基站无法精确估测出各个用户实际的信干比（SINR）值。由于SINR值的不 准确性导致上行链路对于调制编码模式（MCS）的选择不够精确，所以更多地依赖HARQ技术来保证系统的性能。因此，上行链路的平均传输次数会高于下行链 路。所以，考虑到控制信令的开销问题，在上行链路使用同步非自适应HARQ技术。

　　1.2 上行HARQ时序

　 　LTE TDD制式的上下行信号在时域上交错分布，因此其HARQ时序映射关系较FDD更为复杂。根据3GPP TS 36.213规定，TDD制式不同UL/DL Configuration下，下行子帧只在规定位置发送ACK/NACK指令，每个位置发送的ACK/NACK指令对应特定的上行子帧信号，如表1所 示。

　　

　　3GPP TS 36.141规定性能测试只需在配置1下进行，因此可以根据表1的描述得到配置1时的时序图：

　　

　　在配置1时，上行只在子帧2、3、7和8四个位置发送上行信号；下行由基站在子帧1、4、6和9发送ACK/NACK指令，指令的指示对象及重传位置关系如图1所示。

　　2 测试平台

　　2.1 硬件平台

　 　性能测试目的在于模拟实际环境下的系统吞吐率，因此需要基站与测试仪器进行联调。硬件测试平台包括：支持2天线接收的TD-LTE eNB基站、是德科技基带信号发生器与信道仿真仪PXB、是德科技矢量信号发生器MXG（主要用于上变频）以及一台四通道示波器（用于系统调试）。测试系 统结构如下：

　　

　　图2 N5106 PXB测试系统

　 　PXB实时产生TD-LTE上行信号并经过特定信道模型下的衰落后，输出的基带I/Q信号经过MXG上变频分别送入基站的两根接收天线。基站端对接收到 的射频信号进行解调解码，并以RS232C的串行通信方式将反馈结果（ACK/NACK指令）传回至PXB，PXB根据ACK/NACK指令实时调整RV 因子重新发送数据包或选择放弃当前数据包（当eNB发送ACK信号或是已达到最大重传次数）。最后基站端统计得到系统的吞吐率。

　　如果测试环境确实希望使用外置信道仿真器，则只需使用是德科技N5182B/N5172B射频信号发生器即可完成上述系统的测试。典型的测量系统如图3所示。

　　

　　图3 N5182B/72B MXG-B测试系统 2.2 软件平台

　　PXB或N5182B/72B通过Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 软件产生特定的参考测试信号，并实时地调整编码冗余因子。

　　

　　图4 上行信号配置

　　

　　图5 HARQ设置 2.3 反馈信号格式

　 　基站下发给PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信号以RS232C串行通信的数据格式进行编码，PXB或N5182B/72B根据相同的编 码速率和格式进行解码得到ACK/NACK值。反馈信号由8个比特组成，1个起始位，1个停止位，无奇偶校验位。具体的数据格式如表2所示。

　　3 测试结果

　　按照测试结构图搭建好测试系统并配置软件平台，启动基站及PXB或N5182B/72B，同时在示波器和基站控制端观察测试结果。

　　

　　图6 PXB或N5182B/72B实时响应图

　 　6为示波器上观察到的PXB或N5182B/72B实时响应。通道1、2、3和4分别为上行信号帧头、ACK/NACK指令序列、上行信号I/Q数据以 及 PXB或N5182B/72B的ACK/NACK响应（高电平为ACK，低电平为NACK）。如图所示，HARQ时序响应与标准协议完全相符。

　　基站端对上行射频信号进行分集接收并解调，然后通过CRC校验对接收结果作出判断，最后得到在特定衰落模型下的系统吞吐率。

　　根据3GPP TS 36.141规定，选取PUSCH，20MHz带宽信号作为测试案例。在2根接收天线，Normal CP下，按照列出的前10个Case依次测试，结果如下：

　　4 结论

　 　结果表明，系统完全满足标准测试要求。测试过程透明可见，结果显示直观可信。同时，该测试系统在不添加任何硬件配置的情况下，仅仅通过软件配置即可实现 1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，从而实现基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能测试，是TD-LTE基站性能测试的理想平台。

　　推荐方案：是德科技基带信号发生器与信道仿真仪 N5106A PXB配合信号发生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整体解决方案；如果测试系统已有专用信道仿真器，则可使用是德科技信号发生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最终测试。

　　1 前言

　　LTE系统支持FDD和TDD两种双工方式。在这两种双工方式下，系统 的大部分设计，尤其是高层协议方面是一致的。另一方面，在系统底层设计，尤其是物理层的设计上，由于FDD和TDD两种双工方式在物理特性上所固有的不 同，LTE系统为TDD的工作方式进行了一系列专门的设计，这些设计在一定程度上参考和继承了TD-SCDMA的设计思想，下面我们对这些设计进行简要的 描述与讨论。

　　3GPP LTE和之前的系统在空中接口上存在很大的不同，所以对于测试就提出了新的要求。基于在3G测试领域的丰富经验和领先地位，是德科技对于LTE标准从早期 的研发阶段就开始跟踪研究，积累了丰富的经验成果，目前不仅可以为LTE FDD，而且也可以为TD-LTE无线设备研发提供了完整的测试产品线。设备制造商自始自终都可以依赖于是德科技的产品和专家级的支持。

　　如下图所示，我们可以看到是德科技在LTE FDD/TD-LTE各个领域以及客户研发设备的整个生命周期都能给出完整的解决方案，适合不同客户的需求。

　　图一 Keysight LTE整体解决方案

　　2 Keysight TD-LTE测试解决方案

　 　干扰信号和有效信号还有另外一个特点，那就是干扰信号和有效信号会随着车速、风速的快慢而改变。抗干扰的方法如图4所示，首先由RC 组成的低通滤波器滤除高频干扰信号，并对输入信号的幅值进行限幅与整形，再由光电隔离器件实现数据采集器与变频器之间的隔离，从而实现数字信号通道的抗干扰要求。

　　Keysight的接收机端测试系统

　　通过signal studio波形生成软件生成LTE波形下载到PXB进行播放，通过PXB模拟MIMO Fading信道状况，并利用另外两台EXG/MXG分别输出两路MIMO射频信号，来测试在有干扰和多径的情况下的LTE接收机接收信号和抗干扰的能力。

　　

　　图二 LTE接收机测试

　　PXB MIMO接收机测试系统

　　

　 　是德科技的N5106A PXB MIMO 接收机测试仪能够有效地解决在实际无线信道条件下多天线信号产生和信道仿真的需求（图 1）。它可以快速生成真实条件下的 MIMO 环境和 MIMO 信道，并可生成包括路径衰落和信道相关在内的实际衰落场景。PXB MIMO 接收机测试仪提供多达 4 个基带发生器（BBG）、8 个衰落产生器（fader）、业内最宽的120 MHz 带宽、能够模拟宽带的无线信道特性，比如时变的多径时延扩展，多普勒扩展，快衰落，阴影衰落等。用户还可自己定制 MIMO 相关性设置（例如，预定义的信道模型、天线方位图和相关矩阵）并可支持 2x2、2x4 和 4x2 MIMO 的信号产生和信道仿真。

　　

　　图1：N5106A多通道基带信号源

　　3、TD-LTE 发射机端测试方案

　　Keysight TD-LTE发射端测试系统

　　

　　Keysight TD-LTE MIMO发射端测试系统

　　

　 　是德科技借助PXB N5106A多通道信道衰落仿真器，MXG N5182A矢量调制信号源以及MXA/EXA系列信号分析仪搭建的LTE MIMO测试系统可真实模拟和仿真3GPP协议最新标准的MIMO测试，如上图所示，该系统通过PXB N5106A连接MXG 5182A产生TD-LTE标准的2*2MIMO信号，然后通过2台MXA进行发射端分析，借助89601A软件平台可对3GPP Conformance规范的各项MIMO指标进行严格的标定及测试。

　　Keysight TD-LTE BBIC/RFIC测试系统方案

　　

　　针对目前LTE的终端BBIC和RFIC测试需求，是德科技除了可以通过逻辑分析仪加89601A矢量分析软件实现数字基带域的分析以外，还可通过N5343A和N5344A分别实现数字基带域的DigRF v3和v4标准接口协议的激励和分析。

　　4 总结

　 　1. 是德科技借助其在无线，数字以及射频测试领域多年的积累和经验第一时间时间推出LTE解决方案，可以真正帮助可以对于基站收发信机、基站功放、直放站、终 端射频芯片、基带芯片分别用不同的测试系统来完成，目前国内做LTE相关设备厂商如大唐、普天、中兴、华为等相关厂商均选择是德科技的测试方案作为其 LTE相关研发测试的工具。

　　2. 是德科技强大的研发工具矢量信号分析软件89601A可连接是德科技从基带端的示波器到逻辑分析仪再到中频射频端的频谱分析仪、信号源，甚至连LTE综测 仪都可通过该软件连接控制，并分别对数字基带、模拟基带、中频、射频信号进行分析，从而使得我们的客户可以在研发中快速准确定位其问题所在。

　 　干扰信号和有效信号还有另外一个特点，那就是干扰信号和有效信号会随着车速、风速的快慢而改变。抗干扰的方法如图4所示，首先由RC 组成的低通滤波器滤除高频干扰信号，并对输入信号的幅值进行限幅与整形，再由光电隔离器件实现数据采集器与变频器之间的隔离，从而实现数字信号通道的抗干扰要求。

　　文章详情：4G TD-LTE测试解决方案全方位解读

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思博伦4G LTE测试解决方案

 

　　多数LTE部署很可能要升级，因此LTE设备和服务需要与现有的网络技术实现无缝的兼容性。选择LTE设备的消费者希望此类设备能够从服务部署 的第 一天起便开始提供完善的服务，因此要想实现成功，其中的秘诀便是在设计、开发和部署阶段对网络组件及设备进行全面的LTE测试和验证。而且所有这一切都需 要在巨大的入市时间压力背景下尽快完成。

　　移动性

　　在语音和视频等服务中，理想的终端用户体验质量（QoE）在很大程度上取决于LTE网络和设备支持无缝技术内和技术间（UMTS、GPRS、CDMA等）移动性的能力。在部署前，必须在实验室中对这一系列复杂的场景进行测试。

　　性能

　　多模式LTE设备必须在LTE、UMTS和/或CDMA网络上提供无缝的性能，同时还要支持GPS和Wi-Fi等其它信号。尽管运营商承诺的速率每天都在增长，但要想实现这一目标，空中接口的多天线MIMO实施所具备的性能是必不可少的关键因素。

　　LTE网络中演进包核心（EPC）的组件必须具备很高的容量和出色的IP性能。这就要求采用新的代的专用高扩展性移动核心设备，而且需要在EPC实施项目的设计和测试过程中具备强大的IP专业能力。

　　移动回传网的演进

　　由于LTE蜂窝站点要求更高的容量，原生以太网被用作连接和传输此类服务的的物理接口，因此移动回传网必须面对巨大的变化。用以太网来替代TDM线路将意味着必须努力实现更高的计时和同步精度，只有这样才能尽可能减少对服务的干扰并且消灭呼叫丢失的隐患。

　　相关解决方案

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　　关键测试领域

　　-协议验证

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　　8100 LTE

　　思博伦8100系统是当今UMTS/LTE移动设备和芯片组测试领域的最佳解决方案。它支持广泛的应用、定位和无线电接入测试领域，而且其基于选项的灵活设计还使您能够在需要的时候添加所需的新能力。

　　思博伦的8100系统涵盖了移动设备生命周期的多个阶段 ，而非只着眼于最低的认证要求。8100解决方案提供多种可选的可扩展、成本效益选项，从最基本的台顶到全集成平台几乎无所不包。

　　交钥匙式的8100可为设计验证和运营商验收测试提供完整的、现成可运行的自动化，并且包含思博伦的世界级真实网络和无线电条件仿真。对于那些需求更高灵活性的研发工程师，思博伦开发库则可提供一种开放式的环境，实现快速定制的测试开发过程。

　　无论是什么样的配置或使用案例，8100强大的报告能力和根源分析工具都能确保对测试结果进行迅速、简便的解读，并且确定设备性能的完整特性。

　　8100具备同时仿真多种技术（LTE、CDMA/EV-DO、UMTS）和多个蜂窝网络的独特能力，其中也包括增强分组核心（EPC）仿真能力。这样便可实现尽可能广泛的LTE多模式设备性能测试，其中也包括RF/MIMO、数据吞吐量、RAT间测试等。

　　思博伦C2K-ATS或8100-UMTS系统的现有用户将发现可利用该系统很便捷地升级并添加LTE测试。

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Aeroflex应用于LTE基带、RF和协议的测试解决方案

　　概述

　　要想彻底和高效地测试LTE设备，就需要进行包括RF、基带和协议在内的全面测试。Aeroflex通过提供不断增加的产品系列帮助应对这些挑战。

　　长期致力于LTE测试领域使Aeroflex对LTE标准、决定系统性能的基本因素以及保证顺利部署的关键测试要求有深刻的理解。

　　Aeroflex的完整LTE测试解决方案系列涵盖LTE测试的所有方面。它们跨越从研发到制造的整个LTE设备供应链。Aeroflex的LTE测试解决方案可用于从芯片组到最终用户服务（包括基站和手机）的一切测试。

　　LTE基站测试仪

　 　艾法斯推出LTE和LTE-A基站测试产品，是支持 3GPP当前LTE及今后LTE-A技术发展迈出的重要一步。TM 500 LTE/LTE-A基于可扩展的软件定义无线平台，为 3GPP LTE和LTE-A基础设施设备的开发、测试和验证提供方案。首款LTE TM 500产品于 2007年推出，此后，为满足LTE网络测试的各种要求不断扩充产品范围。系列产品目前具备单UE、多UE （针对调度、负载和容量测试） 及多小区测试功能。系统全面融合FDD和TDD 3GPP标准，提供完整的测试功能 （从RF到协议）。最近增加了LTE-A支持，同时继续跟踪 5GPP技术规格的快速发展。

　　系统通过专用频段无线卡 （支持实验室和空中传输），或多频段无线卡 （频率范围 400 MHz – 4GHz，仅适用于实验室测试） 支持 3GPP标准所有RF频段。

　　目前，TM 500已被全球各大基础设施供应商广泛采用，成为领先的E-UTRA基站测试设备。利用分层测试和自动接口，TM 500 LTE和LTE-A可在自动或包围测试配置环境下工作。

　　LTE UE测试仪

　　7100综合测试仪是一种LTE网络仿真拟器，适用于无线设备射频、基带和协议层测试。7100是射频设计与认证、功能测试、集成和衰落测试部门的理想解决方案。7100的易用性、综合测试功能、快速和低成本可使这些部门从中受益。

　 　7100模拟E-UTRAN接入网和EPC （增强型分组核心网），为LTE终端提供真实的测试环境。测试程序控制仿真网络的特性，可创建大量重复使用的测试环境。测试仪可集成衰落模拟器和加性高斯 白噪声 （AWGN） 源选件，可在实验室中建立实际环境下的信号条件。

　　

　　LTE在呼叫模式支持功能和应用测试

　 　测试仪具有用来描述LTE移动设备性能的所有关键测试功能，无论无线接口端，还是协议栈，包括PDCP层，核心网和IMS层。7100网络仿真模式可准 确评估设备端到端性能，以及正确的空闲模式和连接模式行为。在呼叫 （Call Box） 模式配有测试活动管理器，可通过7011触摸屏GUI定义和执行测试排序。

　　LTE RF参数测试

　　7100可在信令和 非信令模式下执行完整的LTE RF测量。7100在呼叫模式提供轻松操作的界面，可在设备接入模拟网络时测量、监控LTE设备的运行状态。内置频谱分析仪为解决复杂的问题提供测量工 具。同时，测试活动管理器可进行3GPP 36.S21-1 LTE FDD和TDD RF测试。

　　实际环境条件性能测试和数据吞吐量测试

　　7100具有LTE基带衰落、AWGN和内置RRM测试功能，可在实验室模拟各种实际环境下的信号条件。采用这种基于软件的创新无线技术，不仅可以减少增加衰退测试环境的成本，而且可在设计过程中提前完成测试，降低后期重新设计的费用，并减少现场实验的成本和时间。

　　专门用于协议记录与分析的LTE开发模式

　　7100开发模式专门支持协议栈开发和集成，L1、L2和L3协议层记录功能，可用于调试和解决开发过程中出现的问题。信息过滤和搜索功能便于导航。利用“场景向导”提供的简易拖放图形界面可轻松创建采用所有LTE子层的定制测试场景。

　　UE和基站LTE参数测试

　 　3410系列数字射频信号发生器： 3410是一款灵敏的小体积射频信号发生器，它集宽广频率覆盖与高性能矢量调制功能于一体，是用于无线通信系统及部件测试的理想解决方案。为满足针对 802.11a、WiMAX、LTE或多载波UMTS等宽带宽调制系统测试的苛刻要求，所有3410系列数字射频信号发生器现在都具有增强的EVM性能。

　　LTE UE制造测试仪PXI

　　PXI 3000系列为LTE设备和组件厂商应对LTE生产测试中的挑战提供成熟、快速、灵活的解决方案。艾法斯设计的LTE制造测试解决方案，充分利用了艾法斯 PXI 3000为全球领先移动设备和芯片组厂商带来的优点。

　　PXI 3000 LTE测量套件在艾法斯率先推出的研发测试系统成功经验基础上构建，具有模块化PXI平台相同的测量性能，并提高了速度和灵活性，有助于LTE厂商顺利完成产品开发到量产的过渡，快速满足LTE设备不断增长的需求，同时保证产品质量并降低测试成本。

　　PXI 3000采用多种技术最大化设备测试的生产能力和产量，快速满足市场需求。

　　

　　PXI 3000 LTE测试功能

　　LTE分析支持1.4 MHz至20 MHz所有带宽以及QPSK、QAM16和QAM64调制类型的 FDD和TDD上行链路（SC-FDMA） 传输。艾法斯 PXI RF数字化仪与信号发生器任意组合可对所有3GPP频段进行LTE测试。

　 　除数值测量结果，LTE测量套件还提供频谱包络、互补累积分布函数 （CCDF）、星座图、EVM对载波 （EVM vs.Carrier） 和EVM对符号 （EVM vs. Symbol） 跟踪显示功能。采用VB、C++或 .NET的全面可编程软件界面便于用户针对特定要求修改、调整测试系统。LTE产品所用部件也可采用IQCreator波形生成软件进行上行链路和下行链 路 LTE FDD与TDD激励响应测量。IQCreator是各种AeroflexPXI数字射频信号发生器模块的一种附加选产品。

　　模块化PXI 3000平台可以随着测试要求的增长逐步扩展测试能力。系统可首先用来测试单天线设备，当开始生产带有多个发射天线的UE时，系统可通过简单的升级扩展MIMO支持。

　　作为全球创新通信测试与测量解决方案供应商，安立生产的众多测试设备已为世界多家移动通信设备制造商采用，对移动通信系统的发展做出了巨大贡献。本文是关于安立LTE测试解决方案的精华集锦。

　　一 支持LTE-A基站载波聚合和多标准无线（MSR）测试

　　LTE-Advanced基站测试增加对载波聚合和多标准无线（MSR）的支持。安立公司新一代的矢量信号源MG3710A可以用更简单的方式完成此类复杂的测试。此外，MG3710A具有出色的能和极具竞争力的价格。

　　MG3710A是一款业内顶级的高性能矢量信号源，它具有出色的射频和基带性能。两路射频输出端口，并且每路内置两个基带存储器，使得MG3710A可以在一个射频端口输出两种不同调制方式的信号。单台仪表可以最多输出四路不同调制方式的矢量信号。

　　
新一代独特的测试创新领袖产品MG3710A 矢量信号源

　　相关数据手册、产品手册及配置指南：【详见】。

　　二 支持TD-LTE&TD-SCDMA&GSM信令连接及射频测试的综测仪

　　中国运营商计划在基于TD-SCDMA/GSM的网络上部署TD-LTE网络，这就需要大量的多制式的支持TD-LTE/TD-SCDMA/GSM网络的终端。

　　安立公司的全制式综测仪MT8820支持以上制式在内的信令及非信令的所有测试。无论对于研发还是生产，都是测试TD-LTE/TD-SCDMA/GSM终端理想的高性价比产品。

　　

　　三 用于智能手机研发的多模基站仿真仪：MD8475A同时支持TD-LTE和TD-SCDMA模式

　 　作为生产基站模拟器的领先企业，安立生产的信令测试仪（基站模拟器）已为世界多家移动通信设备制造商采用，对移动通信系统的发展做出了巨大贡献。尤其 是 W-CDMA 领域，占据了整个市场 70% 以上的份额。信令测试仪 MD8475 更是融合了多项安立积累的技术和经验，为新智能手机产品早日投入市场、提高品质及降低开发成本做出贡献。

　　

　　中国电信运营商预计开始推出 4G 系统 TD-LTE （LTE TDD） 服务。随着 TD-LTE 服务投入使用，预计将同时提供支持现有 TD-SCDMA （3G）、GSM （2G） 系统的智能手机。

　 　因此，智能手机制造商需要对支持 TD-LTE、TD-SCDMA、GSM 这 3 种方式的智能手机进行评估 安立生产的信令测试仪 MD8475A 是一款基站模拟器，它可以通过无线连接（Over-the-Air）进行智能手机产品化所需的各项评估，如 2-cell Testing、Throughput Test、Battery Management 等。

　　使用这 1 台小巧的机器即可对支持 TD-LTE、TD-SCDMA、GSM 这 3 种方式的智能手机进行评估，为面向中国的新智能手机产品早日投入市场、提高品质及降低开发成本做出贡献。

　　智能手机的未来测试需求

　　智能手机首先是一部移动电话，因此确保其移动性是一个绝对条件。例如，从 TD-LTE 服务区移动到 TD-SCDMA 或 GSM 服务区时，智能手机必须从 TD-LTE 的基站连接无缝切换至 TD-SCDMA 或 GSM 的基站连接。

　　评估在基站间移动的智能手机时，需要将所提供的全部通信标准组合进行。

　　另外，诸如以威廉希尔官方网站 交换方式或数据包交换方式进行通信的过程中发生基站切换等时，智能手机的评估除了其待机状态（Idle State）之外，还包括多个项目。

　　

　　MD8475A 可通过用户界面的设定和终端操作轻松进行 TD-LTE 和 TD-SCDMA 之间、TD-LTE 和 GSM 之间等不同无线通信系统之间的切换测试。无需制作并执行冗繁复杂的测试方案。

　　TD-LTE 方式可以实现高速吞吐性能（Downlink： 87 Mbps）

　　高速化后可以使用大量能发挥智能手机特长的应用，如下载大数据量的视频文件、访问使用了语音识别技术的云数据等。因此，能否稳定地实现良好的吞吐性能也是评估智能手机的一项重要指标。

　 　MD8475A 可以通过下列智能手机开发者所必须的各种切入方式，对吞吐量性能的最大化与运行稳定性进行验证。尤其是可满足且稳定评估重要的最大吞吐量，且能在包括 IP 等级在内的各阶段把握吞吐量性能及 L3 级信令信息，适用于支持 TD-LTE、TD-SCDMA 及 GSM 终端等级的吞吐量评估。

　　• RF 前端硬件性能确认• U-Plane 数据的流水线处理

　　• 安装 MAC 和 L3 级协议• 优化智能手机的操作系统

　　• 驱动级调整• 应用软件的稳定化

　　

　　MD8475A 可在所内置的电脑中构建 FTP 数据服务器或应用程序，进行 TD-LTE 方式下高速下行的数据性能评估。

　　通过用户界面软件“SmartStudio”设定测试参数，可对极限值和稳定性进行评估。

　　无需制作方案，通过简单操作即可进行智能手机的评估，可有效提高智能手机开发过程中，评估工作的效率。

　　

　　电池管理功能

　 　除了通话功能，智能手机还具备数码相机、导航等功能，手机会经常使用这些功能，并处于与网络连接的环境中。另外，还可以利用大屏幕提供卓越的操作环境。 用户一方面享受着这些特长带来的出色应用，另一方面对电池消耗很不满意。智能手机的开发者需要对电池消耗进行定量评估，设计出兼顾功能又省电的产品。

　　
图 参数设定

　　MD8475A 与“SmartStudio”可对基站所需的站点相关的参数进行任意设置，因此可根据各通信运营商指定的站点条件和模拟实验进行个别设定，轻松评估电池消耗情况。

　　“SmartStudio”可轻松进行 Neighbor Cell 和 Paging 相关的参数设定。

　 　设定 TD-LTE 方式时，可进行 Periodic Update Timer、Paging Cycle、DRX 模式设定，Uplink 的 Transmit Power Control 等设定。另外，还可以通过各无线承载对 Paging 发送的 SIB（System Information Block） 进行编辑或设定。

　　信令测试仪MD8475产品传单和应用说明，见【详情】

　　文章详情：安立LTE测试解决方案精华集锦

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