SD内存插槽及测试点

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描述

SD内存插槽及测试点

一、实物图

上图中,黑色插槽就是SD内存插槽

二、测试点

   插槽

   SD内存插槽测试点:1个供电、4个时钟、6个信号测试点

    VCC:供电测试点,正常电压3.3V,由场管或橙色线提供

    CLK0、CLK1、CLK2、CLK3:时钟测试点,频率66/100/133MHZ,电压1.1V-1.6V,由北桥或时钟芯片提供

    6个信号测试点:

    CAS#:列选信号

    RAS#:行选信号

    /WE#:允许信号(高电平允许读,低电平允许写)

    /CS#:片选信号

    SCL:串行时钟,SDA:串行数据,由南桥提供3.3V电压

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