集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱型号与参数:
TS－80 400×500×400 970×1360×970
TS--150 500×600×500 1150×900×1650
TS－225 500×600×750 1200×1100×1900
TS－500 700×800×900 1350×1280×2200
TS－800 800×1000×1000 1450×1480×2300
TS－1000 1000×1000×1000 1650×1480×2300
集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱体结构：
箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。
箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板，箱体外胆采用su304钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。
大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用
集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱温度范围：
0℃-150℃-20℃-150℃-40℃-150℃-60℃-150℃-70℃-150℃
也可按客户需要定制非标试验箱，
温度波动度：±0.5℃(空载时)
温度偏差：≤±2℃
升降温平均速率：0.7℃～1.0℃/min(空载时)
时间设定范围：0～9999小时
电源要求：AC380V
集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱控制系统：
制冷机采用法国“泰康”全封闭压缩机。
干燥过滤器、冷媒流量视窗、修理阀、油分离器、电磁阀、贮液筒均采用进口原装件
冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。
采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。
风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。
升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。
整体设备超温；整体设备欠相/逆相；整体设备过载；制冷机组超压；整体设备定时；
其它还有漏电、运行指示，故障报警后自动停机等保护。
集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱符合标准:
本产品满足GB2423.1--2001、GB2423.2--2001等国家标准，以及其它相关标准的要求。严格按GB10592--89集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱技术条件进行设计制造，并可按军标试验要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非标准制作各种高低温环境试验。
集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱用途：
集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱可以用来考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在高低温环境条件下贮存和使用的适应性，适用于学校，工厂，军工，研位，等单位。集成器芯片三箱式冷热冲击试验箱免费送货上门，并安装调试操作介绍(直到需方员工独立操作并满意为止)
