微泄漏包装无损密封性测试仪

型号: MLT-V100(T)
品牌: Paratronix(普创工业科技)

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普创科技密封试验仪

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--- 产品详情 ---

微泄漏包装无损密封性测试仪

产品简介
MLT系列微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》标准研发。专业适用于各种预充式 注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。高精度CCIT测试技术能够检测到微型小孔的泄漏。本产品采用先 进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。

执行标准
《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》    
《USP1207美国药典标准 》
《药品GMP指南——无菌药品》  11.1密封完整性测试
《中国药典》 2020年版四部 微生物检查法
《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南(试行)》
《YYT 0681.18-2020 无菌医疗器械包装试验方法第18部分:用真空衰减法无损检验包装泄漏》

技术优势
内置10吋触摸屏电脑 与外置电脑可选;
可精确显示泄漏孔径(≥1μm )及泄漏量  ;
测试腔与主机为分体布局,一套测试腔适用5种以上规格试样;
测试腔为铝合金或不锈钢制造,气动夹持;
内置流量计,一键完成流量校准;
具备零点、漏孔、流量3种校准方式;
测试结果具备压力衰减、泄漏孔径、泄漏流量三种判断模式
测试结果流量误差≤0.1sccm
真空分辨率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi
具备( kpa/mbar/pa/psi )等测试单位转换
可检测西林瓶,输液袋,隐形眼镜、奶粉罐,电子配件等各种软、硬试样的正负压力衰减测试;

技术参数
测试方法 真空衰减法/压力衰减法
测控技术 微电脑,双传感器测试技术
真空方式 真空泵
正压方式 外接气源
测试单位 kPa/mbar/psi/Pa
分辨率  0.1Pa
测试范围 -99~400kPa
测量范围 ≥0.01ccm (约1μm )
测试精度 ±0.3μm (<3μm )
主控芯片 STM微电脑芯片
采集频率 50~200Hz
操控方式 10寸液晶触摸屏 
操控系统 Windows系统
微泄漏包装无损密封性测试仪  微泄漏包装无损密封性测试仪