电磁兼容性辐射发射测试方法(适用于工作频率30-1000MHZ)随着电子技术的发展,威廉希尔官方网站 频率的不断提高,在电子产品的设计、开发生产、使用和维护的整个周期中,电磁兼容性(EMC)已经成为必须考虑的一环。按照电磁兼容目的为基准,电磁兼容可以分为诊断测试和达标测试。通过诊断测试,找到电磁兼容问题的原因,确定噪声源与被干扰的方位,进而解决。通过达标测试,评估产品是否达到电磁兼容标准。按照电磁兼容测试内容,电磁兼容可以分为骚扰(EMI)发射测试和设备的抗扰度(EMS)测试。EMI测试时设备向外界发射电磁骚扰,EMS则相反,通过给设备外加骚扰,测试其抗干扰能力。其中EMI骚扰发射的方式又分为辐射发射(RE)和传导发射(CE)。二者的区别在于骚扰发射传播的介质不同:一个为自由空间,一个为电源线。文中主要针对电磁辐射发射测试技术进行了相关研究。随着电磁兼容理论的发展,电磁发射发射测试技术不断进步,一些新的试验场地得到了开发,例如TEMCELL,G-TEMCELL,混响室等等。新场地增强了输入功率和产生的骚扰场强的转化效率,使得抗扰度测试的进行更加容易。另一个新的发展是APD(幅度概率分布)在测试中的使用。本文基于APD设计了辐射发射方法,将在后文介绍。同时白于不同频率短的电子产品,电磁兼容测试的方法又有不同,主要体现在较高频段测量产品辐射的电场强度,较低频段测量产品的磁场强度。文中针对30-1 000 MHz频率段的辐射发射测试技术作详细研究与介绍。
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