腔体是飞行器的强散射源之一,如图1所示,在腔体内部涂覆损耗材料能够有效降低其雷达散射截面,这种非理想导体表面的腔体的散射特性分析一直是散射计算一个难度较大的热门课题[1-5]。对于介质涂覆的电大腔体,由于受到内存与计算速度的限制,难以应用低频数值方法求解。基于射线的SBR方法尽管可以处理腔体内壁涂覆有吸波材料的问题,但是其有着射线方法固有的计算精度不高、难以处理复杂结构细节等不足。 F.O.Basteiro等人提出的迭代物理光学法(IPO)能够有效地对一般形状腔体的电磁散射特性进行分析,因为考虑了腔体内面元的相互作用,IPO比一般的基于射线的方法(诸如弹跳射线法(SBR)、广义射线展开法(GRE)等)具有更高的精度,而且IPO是基于高频的物理光学近似,面元剖分密度小,它又比纯粹的数值计算方法有更高的计算效率[4,6],为了处理涂覆有损耗材料的腔体,一些学者对IPO方法作了扩展,文献[6-7]应用Fresnel反射系数来处理吸波介质,这种方法实现简单,但是由于无法通过 Fresnel反射系数获得位于同一平面的涂覆面元的相互作用,必须通过介质涂覆格林函数等其它方法来处理。在文献[2]中用表面阻抗边界条件结合IPO来解决介质涂覆腔体问题,但是精度不高,该作者进一步作了改进,在文献[3]中用等效表面阻抗边界条件(EIBC)来处理损耗介质,在入射波入射角度不是特别大的情况有着较高精度,而且这种方法可以方便地应用到多层介质涂覆地情况,该文应用并矢格林函数处理磁流的贡献,计算公式较为繁琐,本文给出一种更易处理的混合计算公式,应用等效阻抗边界条件结合IPO来计算介质涂覆腔体。
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