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丁亚念

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[问答]

请问AD2S1205通过读角度寄存器活动故障信息有可能错过LOS故障吗?

AD2S1205的datasheet讲到LOS的故障是通过sample信号的上升沿复位的,那是不是通过读角度寄存器(DB1表示LOT和DB2表示DOS)的方式来获取故障信息有可能错过LOS故障? 因为在读角度寄存器的过程中,sample会由低拉高,而LOS故障的出现是随机的,可能会被复位,目前采用FPGA连续去读角度寄存器(周期约1.5us)。是不是有方法可以把故障信号锁存住?让FPGA去读到故障信息?

回帖(4)

黄鸿江

2018-8-15 06:40:49
LOS故障信息是带锁存的,可以通过读取LOT/DOS引脚来判断故障。
如果FPGA连续读取寄存器速度很快,也即SAMPLE信号周期约为1.5us,LOT/DOS引脚状态在SAMPLE上升沿会复位到无故障状态,仅复位内部monitor信号最大最小值寄存器信息。如果内部持续触发,LOS/DOS/LOT其它故障会正常触发
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丁亚念

2018-8-15 06:47:30
引用: 宋小辉1 发表于 2018-8-15 06:40
LOS故障信息是带锁存的,可以通过读取LOT/DOS引脚来判断故障。
如果FPGA连续读取寄存器速度很快,也即SAMPLE信号周期约为1.5us,LOT/DOS引脚状态在SAMPLE上升沿会复位到无故障状态,仅复位内部monitor信号最大最小值寄存器信息。如果内部持续触发,LOS/DOS/LOT其它故障会正常触发 ...

Dear jive:
        您好!非常感谢您的回复。
        我们目前的产品主要是通用工业变频器,之前使用AD2S1205用作速度和角度没有问题,但是在某一个生产线应用中,发生由于干扰问题导致反馈的速度和角度不准,电机控制出现问题。之后我们就开始从软硬件方面来提高AD2S1205的抗干扰能力。
        1、做了旋变掉线检测判断:这个其实比较简单,捕捉LOT和DOS引脚即可(125us肯定会出现1次LOS的状态指示)
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丁亚念

2018-8-15 07:05:13
引用: 宋小辉1 发表于 2018-8-15 06:40
LOS故障信息是带锁存的,可以通过读取LOT/DOS引脚来判断故障。
如果FPGA连续读取寄存器速度很快,也即SAMPLE信号周期约为1.5us,LOT/DOS引脚状态在SAMPLE上升沿会复位到无故障状态,仅复位内部monitor信号最大最小值寄存器信息。如果内部持续触发,LOS/DOS/LOT其它故障会正常触发 ...

您好!非常感谢您的回复。
        我们目前的产品主要是通用工业变频器,之前使用AD2S1205用作速度和角度没有问题,但是在某一个生产线应用中,发生由于干扰问题导致反馈的速度和角度不准,电机控制出现问题。之后我们就开始从软硬件方面来提高AD2S1205的抗干扰能力。
        1、做了旋变掉线检测判断:这个其实比较简单,捕捉LOT和DOS引脚即可(125us肯定会出现1次LOS的状态指示)------这个如果从软件上来读角度和速度的DB1和DB2则会错过一些LOS的状态
        2、正常的电机控制(MCU控制)周期(100us),目前是过采样来读AD2S1205的角度和速度值(FPGA驱动AD2S1205,1.5us可以得到一次速度和角度值---相当于一直在循环读),其实如果在干扰的情况下(比如电机不接大地),LOT和DOS引脚也会报故障,没有办法知道当前得到的角度和速度是否是正确,因为故障会延迟,所以没有办法丢掉任何一次的速度和角度值(其实在10us中有一次是正确的就可以用了)-----有什么好的方法可以取到最准确的角度和速度值?多采几次取平均,取中间值?目前大家是怎么做的?只采一次?
      3、AD2S1205的速度和角度寄存器多少时间更新一次?
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黄鸿江

2018-8-15 07:18:32
引用: fan7572 发表于 2018-8-15 07:05
您好!非常感谢您的回复。
        我们目前的产品主要是通用工业变频器,之前使用AD2S1205用作速度和角度没有问题,但是在某一个生产线应用中,发生由于干扰问题导致反馈的速度和角度不准,电机控制出现问题。之后我们就开始从软硬件方面来提高AD2S1205的抗干扰能力。
        1、做了旋变掉线检测判断:这 ...

1.芯片内部针对DOS/LOS根据激励频率不同,最小检测周期不一样,具体可以参考AD2s1210,默认10K,125us是对的

2.最好的解决办法是从硬件和系统设计上减少干扰信号耦合到芯片输入端,故障是独立的一个检测环路,不影响角度和速度的跟踪
3.芯片内部速度和角度寄存器更新速度非常快,为芯片内部系统时钟
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