芯片测试与失效分析
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芯片化学开封了解一下!
化学开封
Acid Decap,又叫化学开封,是用化学的方法,即浓硫酸及发烟硝酸将塑封料去除的设备。通过用酸腐蚀芯片表面覆盖的塑料能够暴露出任何一种塑料IC封装内的芯片。去除塑料的过程又快又安全,并且产生干净无腐蚀的芯片表面。
检测范围:
常规塑封器件的开帽分析包括铜线开封。
检测内容:
1.芯片开封(正面/背面);
2.IC蚀刻,塑封体去除。
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