电磁兼容(EMC)设计与整改
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顾战科

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传导抗干扰测试失败问题

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这个产品是用阻容降压后经过串联稳压给芯片供电，现在做传导抗干扰的时候，芯片会有误动作，发生在30M~60M之间。有没有什么好的改善方法。L4,L5用的是2K欧的磁珠。共模电感，安规电容这两个是用不了了，太占地方，已经放不下了。

回帖（4）

xyq11nan221

2016-5-27 23:22:49
先测试下给芯片供电的电压波形
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陈鑫

2016-6-2 15:13:45
这个产品是用阻容降压后经过串联稳压给芯片供电，现在做传导抗干扰的时候，芯片会有误动作，发生在30M~60M之间。有没有什么好的改善方法。L4,L5用的是2K欧的磁珠。共模电感，安规电容这两个是用不了了，太占地方，已经放不下
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刘玉梅

2017-2-13 17:52:56
本帖最后由 liuyumei4416 于 2018-4-5 21:09 编辑

如果在测试时需要用到电子元器件样品时，我可以免费提供，电话欧S18902462786
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李龙

2017-3-16 08:49:49
好像没有太大的功能
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