在这种情况下,我们可以采取以下几个步骤来解决2线测温时DAC输出受工频干扰的问题:
1. 首先,我们需要确保传感器和测量设备的接地良好。这可以通过使用屏蔽电缆和确保所有接地点连接良好来实现。
2. 其次,我们可以尝试使用滤波器来减少工频干扰。这可以通过在DAC输出端添加低通滤波器来实现。低通滤波器可以有效地去除高频干扰,从而减少工频干扰对测量结果的影响。
3. 针对您提供的三个方案,我们可以进行以下分析:
a. 方案a:ADUCM内部开关N9接通,SE0短接地。这种方法可以减少干扰,但会导致信号被压缩。如果信号压缩在可接受范围内,可以考虑使用这种方法。
b. 方案b:内部开关N9接通,SE0短接至vzero。这种方法可以使DAC输出完整的正弦波,但峰峰值会压缩至0.9倍。如果峰峰值压缩在可接受范围内,可以考虑使用这种方法。
c. 方案c:内部开关N4接通,AIN3短接至VREF_1.8V。这种方法可能会影响其他信号的测量,因此需要评估其对整个系统的影响。
4. 在选择方案时,需要权衡各种方案的优缺点,并根据实际需求和测量精度要求来确定最佳方案。
5. 最后,可以考虑使用更高级的测量技术,如4线测温法,以减少干扰对测量结果的影响。这种方法可以提供更高的测量精度和抗干扰能力。
通过以上步骤,我们可以有效地解决2线测温时DAC输出受工频干扰的问题。
在这种情况下,我们可以采取以下几个步骤来解决2线测温时DAC输出受工频干扰的问题:
1. 首先,我们需要确保传感器和测量设备的接地良好。这可以通过使用屏蔽电缆和确保所有接地点连接良好来实现。
2. 其次,我们可以尝试使用滤波器来减少工频干扰。这可以通过在DAC输出端添加低通滤波器来实现。低通滤波器可以有效地去除高频干扰,从而减少工频干扰对测量结果的影响。
3. 针对您提供的三个方案,我们可以进行以下分析:
a. 方案a:ADUCM内部开关N9接通,SE0短接地。这种方法可以减少干扰,但会导致信号被压缩。如果信号压缩在可接受范围内,可以考虑使用这种方法。
b. 方案b:内部开关N9接通,SE0短接至vzero。这种方法可以使DAC输出完整的正弦波,但峰峰值会压缩至0.9倍。如果峰峰值压缩在可接受范围内,可以考虑使用这种方法。
c. 方案c:内部开关N4接通,AIN3短接至VREF_1.8V。这种方法可能会影响其他信号的测量,因此需要评估其对整个系统的影响。
4. 在选择方案时,需要权衡各种方案的优缺点,并根据实际需求和测量精度要求来确定最佳方案。
5. 最后,可以考虑使用更高级的测量技术,如4线测温法,以减少干扰对测量结果的影响。这种方法可以提供更高的测量精度和抗干扰能力。
通过以上步骤,我们可以有效地解决2线测温时DAC输出受工频干扰的问题。
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