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集成威廉希尔官方网站 封装可靠性试验的分类与作用

Semi Connect 来源:Semi Connect 2023-06-16 13:51 次阅读

集成威廉希尔官方网站 封装可拿性试验是指对集成威廉希尔官方网站 进行封装可靠性调查、分析和评价的一种手段,即对封装或材料施加一定的应力(如电应力、热应力、机械应力或其综合),检查其在各种应力作用下的各项性能是否稳定,各种参数是否超出技术指标,以及封装结构是否完整,从而判断集成威廉希尔官方网站 的封装是否合格或可靠,设计是否合理,制造是否正常。集成威廉希尔官方网站 在贮存、运输和使用过程中,会遇到非常复杂的各种环境,如振动、冲击等机械力作用,潮湿、盐雾或各种射线辐照等恶劣环境,还需要在高温/低温及温度剧烈变化的条件下正常工作,这些机械作用和环境的影响可能使集成威廉希尔官方网站 加速损坏,而其影响程度将涉及集成威廉希尔官方网站 封装结构的合理性、封装材料的性能稳定性、封装工艺的正确性和封装质量的一致性。针对不同的可 靠性要求,应进行不同项目的、施加不同应力条件的试验和测试,可靠性试验可在一定程度上评价集成威廉希尔官方网站 的可靠性水平,并通过评价其可靠性水平来不断优选封装材料,改进封装结构,优化封装工艺技术,以及采取必要的封装应用措施来保证集成威廉希尔官方网站 封装的可靠性。

1.集成威廉希尔官方网站 封装可靠性试验的分类

集成威廉希尔官方网站 封装可靠性试验分类方法有多种。按照环境条件分类,可分为各种应力条件下的模拟试验和现场试验;按照试验方法分类,可分为电热性能试验、机械试验、环境试验等;按照试验应力水平分类,可分为正常应力试验、加速应力试验;以试验对受试样品是否具有破坏性分类,可分为破坏性试验和非破坏性试验;按照可靠性试验目的分类,可分为可靠性验收试验(包括可靠性鉴定试验)、可靠性测定试验、可靠性统计试验;按照试验过程中所起的作用分类,可分为筛选试验和验收试验。最常见的是以对受试样品是否具有破坏性来分类。

(1)非破坏性集成威廉希尔官方网站 封装可靠性试验:非破坏性试验不需要对样品进行物理或化学处理,它是失效分析技术的发展方向之一。非破坏性分析主要包括外部目检、内部目检、叉 光检查分析、反射式扫描声学显微(C-SAM)等。

(2)破坏性集成威廉希尔官方网站 封装可靠性试验:主要包括机械应力试验和环境试验。封装可靠性的机械应力试验主要包括恒定加速度、机械冲击、扫频振动、引线键合抗拉强度、芯片拉脱强度、芯片剪切强度 等试验。环境试验主要是化学性试验,包括高压蒸煮、温度循环、耐湿、盐雾、内部水汽含量、密封、易燃性等试验。

2.集成威廉希尔官方网站 封装可靠性试验的作用

(1)早期发现并暴露集成威廉希尔官方网站 在封装设计和生产阶段存在的结构、材料和制造等方面的缺陷,也用于对封装缺陷的筛选。

(2) 基于不同可靠性试验条件下的试验数据,评估封装在不同工作环境下的失效模式,并对失效机理进行研究,以便优选材料、改进封装设计及优化封装工艺,合理改进集成威廉希尔官方网站 封装可靠性。

(3)对集成威廉希尔官方网站 封装质量等级进行鉴定,全面考核其是否已达到预定的可靠性指标,以便对封装集成威廉希尔官方网站 应用提供更好的依据,也可为用户选择封装厂和封装工艺线提供依据。

(4)为集成威廉希尔官方网站 封装线认证、批次验收等提供依据。

审核编辑:汤梓红

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原文标题:集成威廉希尔官方网站 封装可靠性试验的分类与作用,積體電路封裝可靠性試驗的分類與作用

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