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对电子元器件进行加速老化试验的意义

贝尔试验箱 2022-08-03 15:15 次阅读

电子元器件施加高温、高湿和一定的驱动电流,进行加速老化试验。根据测试结果,可以判断电子元器件具有功能和失去功能,以及验收和拒收,并可以调整电子元器件的工作状态和分析可靠性。

加速老化试验:

1高温加速老化试验:加速老化过程中最基本的是高温环境压力类型。在实验过程中,应定期对所选参数进行监测,直至降解超过使用寿命。

恒温试验:

恒温试验类似于高温操作试验,应规定恒温试验样品的数量和允许的故障次数。

温度变化试验:

改变温度的高温加速老化试验是依次逐渐升高温度(如60℃、85℃、100℃)。

pYYBAGLqDsqAWyxoAAAt3Tu68tw856.png温度循环试验箱

温度循环测试:

除了温度循环对于电子元器件来说是一种环境应力测试外,温度循环还会加速电子管元件的老化。温度循环加速老化的目的一般不是引起特定性能参数的退化,而是为封装在组件中的光路的长期机械稳定性提供额外的附加说明。

变频振动试验:

确定在标准频率范围内振动对电子元器件各部件的影响。

由此可见,对电子元器件进行加速老化试验是非常必要的。它可以在测试过程中发现电子元器件的缺点,提前暴露产品的缺点,从而缩短产品开发周期,节省时间。

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