TEM小室在电磁兼容测试中的应用

从2018年开始，电动车、车联网等ADAS的普及速度加快，尤其在自驾车的带动下，半导体的封装技术愈来愈先进，但新的封装方式也让车用零件可靠度方面有了更多的挑战。

我司最新推出的TEM小室可以用来测量来自被测件EUT或集成威廉希尔官方网站 PCB的辐射敏感度和传导抗扰度的试验，其频率可以达到8GHz。其驻波比可以到达1.3，传输衰减比小于0.3dB。

源于被测件EUT的发射场通过小室的发射模进行耦合，并以此在室的一个端口耦合到一个电压。用TEM小室进行辐射骚扰测量的优点：由于它是在一个屏蔽室内进行的，因此把可能感应到的环境电压降到了极低的水平，一般地讲也就是测量设备的本底噪声，TEM小室的两端呈锥形向通用的同轴器件过渡，一头连接同轴线到测试接收机，另一头连接匹配负载，如下图所示。

TEM小室的外导体顶端有一个方形开口用于安装测试威廉希尔官方网站 板。其中,集成威廉希尔官方网站 的一侧安装在小室内侧，互连线和外围威廉希尔官方网站 的一侧向外。这样做使测到的辐射发射主要来源于被测的IC芯片。受测芯片产生的高频电流在互连导线上流动,那些焊接引脚、封装连线就充当了辐射发射天线。

当测试频率低于TEM小室的一阶高次模频率时，只有主模TEM模传输，此时TEM小室端口的测试电压与骚扰源的发射大小有较好的定量关系，因此,可用此电压值来评定集成威廉希尔官方网站 芯片的辐射发射大小。

用TEM小室的测试方法是：为了保证重复性，环境温度保持于18℃～28℃；测试环境的背景电磁噪声至少低于最低极限线值6dB；在测试之前，集成威廉希尔官方网站 应使用适当的程序加载并处于稳定状态；待测集成威廉希尔官方网站 的供电特性应符合集成威廉希尔官方网站 制造商要求。

用TEM小室的测试步骤：

第一步：按测试布置进行环境温度及背景电磁噪声测试，此时待IC不上电；

第二步：待测IC上电，并进行功能测试，需要对IC的软件加载，并一直到其处于稳定状态；

第三步：对待测IC进行辐射发射测量；

第四步：将待测IC与测试夹具旋转90º，重复第三步测试，直至四个可能的方向均完成辐射发射测量。

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